日本電子株式会社のカタログ一覧

JCM-7000で無処理でスピーディーに観察&分析! ~低真空(LV)有効活用事例紹...

卓上走査電子顕微鏡（SEM）JCM-7000の各種事例を紹介電気を通さない絶縁試料を無処理でそのまま SEM観察してみませんか? 走査電子顕微鏡 (SEM)は電気を通す(導電性) 試料の観察が一般的なので、・電気を通さない絶縁試料をSEM観...

JSM-IT810は、次世代型電子光学制御システム“Neo Engine"と、ZeromagやEDSインテグレーションなどの高い操作性を実現する“SEM Center"を搭載しています。さらに、自動観察・分析機能“Neo Action”や自動校正機能は、...

分解能・精度・感度そのすべてを、この一台で

◆超高質量分解能・超高質量精度大阪大学大学院理学研究科が開発したMULTUM II イオン光学系に基づく JEOL 独自の SpiralTOF イオン光学系により、コンパクトな筐体の中で17mの飛行距離と高いイオン透過率を実現しました。MALDI-T...

“今”が見える !“次”に進める ! Live 観察が進化した卓上 SEM

JCM-7000Plusは、試料の形状、成分をその場で捉える「Live 観察」が大幅に進化した卓上 SEM です。操作性の良さを活かしたリアルタイムのスクリーニング測定により、“今” 起きている現象を的確に捉え、“次”のアクションへつなげる判断を可能にし...

先進SEMを、あなたのラボに

◆Simple SEM 　ルーティンワークは、おまかせ ◆試料交換ナビ　試料を入れて、迷わず観察 ◆Zeromag 　光学像を拡大すれば、SEM像 ◆詳細はカタログをダウンロードしご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

あらゆる GC-MS 測定を可能とする、技術の粋を結集!

高い装置性能、高い汎用性、高い分析拡張を兼ね備えた1台です ◆デュアルフィラメントで止まらない測定　真空を破らず切り替え可能。断線時も自動バックアップで連続測定を維持。 ◆断線しにくい最適設計で長期安定　形状と電流制御を最適化し、フィラメ...

高性能でありながら簡単・迅速

性能と機能を追求した究極のGC-MS、JMS-T2000GC AccuTOFT™ GC-Alpha は、全自動標準試料導入部と msFineAnalysis Alを搭載し、“2.0”へと進化しました。包括的二次元ガスクロマトグラフィー (GCxGC)...

JSX-1000Sは、タッチパネルを採用した、簡単かつ迅速に元素分析が行える蛍光X線...

シンプルオペレーションを支える高性能長年培った当社独自のアルゴリズムによるFP (ファンダメンタルパラメータ) 法により、標準試料を使わず高精度な定性・定量分析が行えます。新開発・自社製 SDD (シリコンドリフト検出器) と新設計の光学系、全エ...

JMS-T4000GC は JEOL 独自のテクノロジーにより、定性分析から極微量定...

◆高性能 EI イオン源 EPIS（オプション）により、従来よりも極微量定量分析が可能！ ◆排出周期可変モードにより、広いダイナミックレンジでの SRM 測定を実現！ ◆統合定性解析ソフトウェア“msFineAnalysis iQ”（オプション）によ...

必要なデータを、いつつだってシンプルに

◆simple SEM 　ルーティンワークは、おまかせ ◆試料交換ナビ　試料を入れて、迷わず観察 ◆Zeromag 　光学像を拡大すれば、SEM像 ◆Live Analysis 　観察中も常に元素分析 ◆SMILE VIEW Lab ...