株式会社ラポールシステムのカタログ一覧

各種、画像処理装置と開発中センサーのご案内です。

◆エッジ欠陥検査装置・焼け、欠け、クラック、未研磨等の欠陥検出

GEMドライバ・EES・半導体装置向けT-BOXなどのご案内です。

掲載内容 ◆GEMドライバ Windows環境で動作する制御アプリケーションにGEM通信機能を追加するためのDLLドライバです。 ◆EES(Equipment Engineering System）半導体製造装置が正常に機能している...

量産を伴うことを前提条件として、フルカスタムおよびセミカスタムの2つのスタイルで...

◆フルカスタムお客様の要求仕様に基づき、設計・製造・メンテナンスまで行います。 ◆セミカスタム弊社開発の製品をベースにカスタマイズ設計・製造・メンテナンスまで行います。ベースとなる弊社製品------1タッチパネルコントロ...

計測・制御・通信・メカトロニクスを柱に、最先端技術分野に大きく貢献していきたいと考え...

我々ラポールシステムは、”計測・制御・通信”を3本柱に、自社製品のみならず、お客様のご要求に基づくボード・ユニット・システム設計・製造をお引き受けし、住みよい社会、働きやすい環境づくりに貢献したいと考えております。 ◆ 要素技術・アナログ回路...

画像処理関連技術の決定版！

各種、画像処理装置と開発中センサーのご案内です。焼け、欠け、クラック、未研磨等の欠陥検出などに最適！エッジ欠陥検査装置/ ガラス外観検査装置/ BGA/CSP 外観検査装置/開発中センサーなどをご紹介。 ◆詳細はダウンロードして...

SECSⅠとHSMSを同一ドライバで実現！ライン立ち上げ後の変更要求にも少しの変更...

●製品概要・Windows環境で動作する制御アプリケーションにGEM通信機能を追加する為のDLLドライバです。・DLL形式のドライバですので、開発言語の制約はありません。・SECSⅠとHSMSを同一ドライバで実現できますので、ライン立ち...

CCDラインセンサカメラの採用により高速処理を実現！

●概要 BGA、CSPなどのパッケージ基板の外観検査を高速・高精度におこなう光学式外観検査システムです。パターンの断線、キズ、ショート、ピンホール、寸法不良などの欠陥をインラインで検査可能です。 ●特徴・インライン検査が可能です。・C...

ユーザーによる通信プログラム作成不要！

● 概要本製品は、低価格でＥＥＳ（装置エンジニアリングシステム）を構築し、装置の生産性向上を実現するためのパッケージです。 ● 特徴・ユーザーによる通信プログラム作成は不要です。（必要なパラメータ設定のみでＯＫです。）・既設システムにも...

ウェハ・ガラス基板だけでなく、その他の鏡面基板上の膜厚測定が可能！

●概要本装置は分光器と光干渉式膜厚解析ソフトを搭載し、各種パラメータの設定をする事により膜厚測定を可能とした非接触式自動膜厚測定装置です。本解析ソフトは薄膜の表面及び基盤との界面からの干渉波形を解析することにより、非接触で、透明もしくは半透明の薄...

人と人、人と技術の融和を目指して。

計測・制御・通信・メカトロニクスを柱に、最先端技術分野に大きく貢献していきたいと考えております。ラポールシステムの”ラポール”とは、人と人のコミュニケーションの輪の広がり、融和をあらわす言葉からとったものです。弊社は、微々たる力ではありますが、現...