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【パターンの断線、キズ、ショート、ピンホール、寸法不良などの欠陥をインラインで検査可能!】PCB外観検査システム(プリント基板外観検査システム)

製品カタログ

CCDラインセンサカメラの採用により高速処理を実現!

●概要
BGA、CSPなどのパッケージ基板の外観検査を高速・高精度におこなう光学式外観検査システムです。
パターンの断線、キズ、ショート、ピンホール、寸法不良などの欠陥をインラインで検査可能です。

●特徴
・インライン検査が可能です。
・CCDラインセンサカメラの採用により高速処理を実現します。
・検査結果データと欠陥画像をリアルタイムに作成・保存します。
・検査結果はExcelファイルとして保存も可能です。

●オプション
ローダー/アンローダーユニット

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このカタログについて

ドキュメント名 【パターンの断線、キズ、ショート、ピンホール、寸法不良などの欠陥をインラインで検査可能!】PCB外観検査システム(プリント基板外観検査システム)
ドキュメント種別 製品カタログ
ファイルサイズ 299.7Kb
登録カテゴリ
取り扱い企業 株式会社ラポールシステム (この企業の取り扱いカタログ一覧)

このカタログの内容

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●概要 BGA、CSPなどのパッケージ基板の外観検査を高速・高精度におこなう光学式外観検査システムです。 パターンの断線、キズ、ショート、ピンホール、寸法不良などの欠陥をインラインで検査可能です。 BGAパッケージ CSPパッケージ PCB基板 ●特徴 ・インライン検査が可能です。 ・CCDラインセンサカメラの採用により高速処理を実現します。 ・検査結果データと欠陥画像をリアルタイムに作成・保存します。 ・検査結果はExcelファイルとして保存も可能です。 ●画面例 装置外観写真 ●仕様 基板サイズ(カスタマイズ可) 300mm × 300mm ~ 540mm × 630mm 検査分解能(最小解像度) 9μm/pix 検査項目 パターンの断線、キズ、ショート、ピンホール、異物、変色、穴径、位置ズレ 入力センサ(カメラ) 16000画素CCDラインセンサ × 4台 階調出力 256階調出力 検査処理方法 パターンマッチング 検査タクト 15sec/sheet (540 × 630mm時) ●オプション ローダー/アンローダーユニット 製品に関する詳しいお問い合わせは 計測・制御・通信の 〒101-0021 東京都千代田区外神田2-16-2 千代田中央ビル TEL 03-3253-6000 FAX 03-3253-5444 ホームページ http://www.lapole.co.jp