FPiS-HP
FPiS-HP-501-0
R＆Dに適したAOI製品。細かく測定することを意識した高精度タイプ
FPiS-HPは、50MピクセルのCCDカメラと独自の測定・画像処理のアルゴリズムの使用により、高精細ディスプレイのサブピクセルレベルで相対輝度分布情報を得ることのできるシステムです。
点欠陥や線欠陥などの基本的な検査項目の実施はもちろんのこと、面内の相対輝度情報よりディスプレイを均一に表示させるための補正係数を求め、フィードバックすることが可能です。
最先端の高精細ディスプレイの研究開発に最も適した製品です。
FPiS-HPの特徴
・全サブ画素をカメラの移動無しで測定可能
・面内の一様性（Uniformity) 評価が可能
・ユーザー定義の閾値設定による欠陥レベルの分類が可能
・発光ムラを補正するための係数を算出可能
・欠陥画素の正確なアドレス表示
| 主な用途 | ・ディスプレイ全サブピクセルの相対数値評価 ・高精細ディスプレイのピクセル欠陥検査 ・OLED ディスプレイの面内発光ムラ補正検討 |
|---|---|
| URL | http://www.cybernet.co.jp/fpis/products/hp.html |
サイバネットシステム株式会社
1985年の創業以来、物理学をはじめとする科学技術とデジタル技術の双方に精通した技術者集団として、製造業の開発・設計部門や大学、政府系研究機関に対し、最先端のデジタルソリューションおよび技術コンサルテ...
〒 101-0022
東京都千代田区神田練塀町3
FPiS-HPへのお問い合わせ
*の項目は入力必須です。
お問い合わせ内容をご記入ください
