IRMS8599S
IRMS8599Sは測定対象の薄膜に投光し、表面反射光と裏面反射光による干渉から膜厚を測定します。膜厚が厚くなるほど、反射率スペクトルに現れる波(干渉波)の数が増加する原理を利用して膜厚を計測します。検量線が不要で、高精度な計測が行えます。
○RS-485通信・アナログ出力機能搭載
○連続分光方式でFFT解析、CF(カーブフィッテング)解析が可能
○最大4層を同時計測
○使用温度0~50℃、IP65(防塵防滴構造)
光干渉式膜厚計 IRMS8599Sのダウンロード (1.2Mb)
測定方式 | 可視近赤外連続分光方式 |
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測定波長域 | 0.4~1.0μm |
測定距離 | 10~80mm |
測定間隔 | 10~10000ms |
アナログ出力 | 4~20mAC DC(負荷抵抗500Ω以下) |
通信インターフェイス | RS-485 |
電源 | 24V DC |
最大消費電力 | 150VA |
質量 | 3.5kg |
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