ハードウェアとソフトウェアの両面から画像処理検査の【最適化】をご支援します
画像処理検査『URCP』はご要望や検査対象に応じて、
組み合わせやカスタマイズが可能。
サンプル評価による光学機器・条件の選定から、
搬送装置や自社開発の画像検査システムの導入まで一貫して対応いたします。
【ソリューション事例】
■パターン外観検査システム
対象：電子部品（セラミック基板、アルミ基板）、シート
■超音波探傷システム
対象：電子部品、鉄鋼・金属
■３D高さ計測システム
対象：ガラス・鏡面、金属、樹脂・ゴム
■投影寸法計測システム
対象：リードフレーム、円筒ワーク、モーター、段付きシャフト、ギア
などの寸法
■原反計測システム
対象：原反/シート（不織布・フィルム・シート、金属シート・鉄板）
■容器外観検査システム
対象：包装/容器
■密着イメージセンサ外観検査システム
■近赤外画像 外観検査システム
※詳しくは資料をご覧ください。（最新版の情報も掲載。22年5月現在）
★サンプル評価を無料で受付中。お問い合わせフォームよりお申込みください。
（ご相談内容によっては有償でご対応させて頂く場合も御座います）
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このカタログについて
| ドキュメント名 | 【セラミック基板/アルミ基板】画像処理検査の最適化を支援！ |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 6.6Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社宇部情報システム (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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