蛍光X線膜厚計
蛍光X線膜厚計
11件の登録があります。
蛍光Ｘ線式 膜厚測定器 ハンドヘルド型『 XAN500 』
ハンドヘルド型でありながら、高精度かつ高い検出感度！現場で素早く非破壊で検査し...
『ハンドヘルド型蛍光Ｘ線式測定器XAN500』は、携帯可能な蛍光X線式の膜厚測定および素材分析機器です。シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。...
蛍光Ｘ線式 膜厚測定器 微小部測定用『 XDV-μ 』
ポリキャピラリX線光学系を採用！微小部の薄膜メタライズ、高機能めっきの膜厚を短時...
『XDV-μ』は、ポリキャピラリX線光学系を採用した汎用性の高いエネルギー分散型蛍光X線測定装置です。当製品は、非常に小さい部品や構造部分を非破壊で膜厚測定・素材分析に...
蛍光X線式膜厚計 EX-851
オートフォーカス搭載！2つの測定モードを選択し、測定作業をよりスムーズに
◆オートフォーカス搭載・フルオートフォーカスモードレーザーポインタ照射位置に測定物をセットし、ドアを閉めるとステージが自動で移動・測定までを自動で行います。 ・...
ウェハーの測定に特別設計された蛍光X線測定装置 FISCHERSCO...
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ WAFERは、ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できる...
・エレクトロニクス産業や半導体産業などのウェハー測定・薄膜コーティングの分析（例）0.1µm以下のAuやPdなど・多層膜コーティングの測定など・ウェハーの膜厚測定と素材...
蛍光X線測定装置 FISCHERSCOPE(R) X-RAY XDV(R)-μ
集光レンズの搭載により、微小部のメッキ膜厚を短時間で高精度に測定可能！
●最小10µmの集光レンズを搭載（オプション）従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。●検出器には半導体検出器の中でも最高性能のSDDを採用SDD(...
蛍光X線式膜厚測定器 FISCHERSCOPE(R) X-RAY XDAL(R) 237／X...
微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と素材分析。プログラム機能付き電動式X...
・FISCHERSCOPE X-RAY XDALシリーズは、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。・Ｘ線検出器に、半導体検出器（PIN）搭載のXDAL 237、シリコン・ドリフト検出器（SDD)搭載のXDAL...
蛍光X線式膜厚測定器 FISCHERSCOPE(R) X-RAY XDL(R)
蛍光X線によるメッキ量産部品やPCBなどの膜厚測定や素材分析
・汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。・量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に最適な装置です。・高精度かつ長期安定性。・再校正に必要...
蛍光X線式膜厚測定器 FISCHERSCOPE(R) X-RAY XDLM(R) 237
膜厚測定と材料分析を行う測定機！ 一般メッキからハイテク・エレクトロニクスにま...
◆Ｘ線管球にマイクロフォーカスチューブを搭載し、より小さな測定スポットで分析◆ハウジングに細い開口部（Ｃスロット）があり、大きな板状サンプルも測定可能◆4種類のコリ...
蛍光X線式膜厚計 EX-731
優れた操作性で極微小部を最高の精度で測定 大きなサイズの基盤も測定可能
・ダブルフィルタ採用で最高の精度、最適の条件で測定可能 ・測定位置にマウスを合わせることにより敏速な位置合わせを実現 ・マルチタスク機能で測定中でもレポート作成を...
蛍光X線式膜厚計 COSMOS-3X
小型省スペース 優れた操作性で極微小部を 最高精度で測定
・ダブルフィルタ採用で最高の精度、最適の条件で測定可能 ・マルチタスク機能で測定中でもレポート作成を含む他の処理が可能 ・コリメータの最小が0.05φmmで極微小部の測定...
蛍光X線式測定装置 FISCHERSCOPE(R) X-RAY XULM(R)
X線源と検出器が下側に配置のコンパクト設計の蛍光X線式測定器です
・FISCHERSCOPE X-RAY XULM(R)は、X線源と検出器が測定チャンバーの下側に配置されています。・コンパクトな設計ですが、量産品の測定用に設計されており、大きなサンプルを測...