蛍光X線によるメッキ量産部品やPCBなどの膜厚測定や素材分析
・汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。
・量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に最適な装置です。
・高精度かつ長期安定性。
・再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。
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このカタログについて
| ドキュメント名 | 蛍光X線式膜厚測定器 FISCHERSCOPE(R) X-RAY XDL(R) |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 225.1Kb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社フィッシャー・インストルメンツ (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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