電磁気分析装置に戻る

走査電子顕微鏡

15件の登録があります。

走査型電子顕微鏡(そうさがたでんしけんびきょう、英語: scanning electron microscopeSEM)は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察する。通常は二次電子像が利用される。透過電子を利用したものはSTEM(走査型透過電子顕微鏡)と呼ばれる。TEMでは主にサンプルの内部、SEMでは主にサンプル表面の構造を微細に観察する。

もっと見る 閉じる

走査型電子顕微鏡http://ja.wikipedia.org/)より引用

公開中の特集