MATRIX-F　FT-NIR分光計

MATRIX-F FT-NIR 分光計 革新的技術や洗練された試験装置などが対象 革新的技術や洗練された試験装置などが対象となる“R&D 100” を受賞 となる“R&D 100” を受賞したMATRIX-F は、 した MATRIX-F は、専用のフーリエ変換近赤外（FT-NIR）プロセス分光 プロセス用途向けの次世代の FT-NIR 分光計 計です。また、過酷な環境でも直接使用できる、業界用に強化された初 です。 の FT-NIR システムです。この分光計は、干渉計の可動部品について 10 年 間の保証を提供しています。コンパクトなボディに最先端の光学系を装備 正確なインライン測定結果を数秒で出力 し、卓越した感度と安定性を常に発揮します。その革新的な設計により、一 1 回の測定で複数の成分を同時分析 貫した高精度な分析結果、ダウンタイムの短縮、分析メソッドのダイレクト 非破壊分析 移設を実現しています。また、他の装置では対応できない新たな用途にも 対応できます。業界標準の通信プロトコルを完全にサポートしているので、 6 ポートマルチプレクサーを内蔵 統合も簡単です。 容易な装置間の分析メソッド移設 堅牢設計 MATRIX-F は理想的なプロセス用装置であり、まず分析メソッドの開発の イーサネット接続と業界標準の通信プロトコ ために試験室に独立したシステムとして設置し、その後、プロセス用途に ルに対応 移動させることもできます。またNEMA 4/ IP66 防沫筐体を使用する独立 型として、あるいは温度調節付きキャビネット内の標準の19 インチラック に取り付けて使用することも可能です。MATRIX-F には、6 ポート光ファイ バーマルチプレクサーを装備することもできます。また測定ポイントを追加 するための外部マルチプレクサーも用意されています。MATRIX-F は、最 先端のプロセス管理用の FT-NIR テクノロジーです。 F T-NIR Innovation with Integrity

FT-NIR プロセスモニタリング 現在、多くの企業において、最高品 質の最終製品を製造するためだけ でなく、製造効率の向上を目的とし て、試験室の分析テクノロジーを工 場にも導入しています。製造プロセ スを厳しく管理することにより、原 料の使用を最適化し、仕様を外れ た原料の製造を削減または排除で きるようになります。その結果、加 工のやり直しや廃棄のためのコスト を回避できます。化学反応および中 間・最終工程の製品品質をダイレク MATRIX-F FT-NIR 分光計は、イン プロセスモニタリング専用ツー 光ファイバープローブと測定ヘッドを トモニタリングする、プロセス管理 ラインおよびオンラインプロセスモ ル、CMET。 備えた MATRIX-F。 アプリケーション: ニタリングに理想的です。 インプロセスのリアクタまたはパ イプライン、Web 経由またはコン ベヤベルトでの直接測定 長距離からのリモート測定 多様な測定オプション メンテナンス プロセスの理解と管理の向上 MATRIX- F は、光ファイバーテクノロジーによ MATRIX-F は、信頼性が高く、簡単にメンテナンス 各種業界でブレンドプロセスの り 1 台の分光計で液体および固体の透過率と反 できるように設計されています。消耗品の交換も 均一性、化学成分の濃度、重合プ 射率を測定できる唯一の FT-NIR 分光計です。 ユーザー自身で可能で、すべてアライメント済みの ロセスの状態を確認するための マウントに取り付けられているため、交換後の再 理想的なツール 光ファイバープローブ:    測定部に取り付けるプローブは、一般的な拡散 調整は不要です。すべての作業は短時間で行えるた FT-NIR は、高効率の石英光ファイ め、製造プロセスの混乱やダウンタイムを最小限に バー経由でリモート測定をすばやく反射プローブ、透過反射プローブ、様々な光路長 実行できるため、プロセス測定のた の透過プローブ、さらにはプロセスフローセルや とどめることが可能です。 めの理想的な分光分析技術です。 パイロットプラントアセンブリー等からお選び頂 システムバリデーション そのようなファイバー内での信号の けます。また材質は、ステンレス鋼やハステロイ 減衰は非常に小さく、NIR 光ファイ MATRIX- F は、システムバリデーション試験に バーケーブルおよびプローブは堅牢 など、様々なニーズに対応可能です。 用いられる標準物質や光学フィルターを装備 で比較的安価であり、広く入手可能です。プロセスプローブは、プロセ 非接触測定用ヘッド:  した、自動フィルターホイールを内蔵していま スストリーム内に直接、分光計から   光ファイバー NIR 照射および検出ヘッドには、試 す。OVP、OPUS バリデーションプログラムは、一連 数百メートルの位置に配置すること ができ、複数のプローブを 1 台の分 料に光を照射するタングステンランプ光源が装 の性能試験を実行した後に装置の性能を評価し、 光計に接続できます。 備されています。集光された近赤外光は、光フ 装置が仕様の範囲内で動作することを保証しま ァイバーケーブルを経由して分光計に導かれま す。これは、医薬品産業における分析業務に使用す す。これにより非接触かつ遠隔での測定が可能 るための必要条件の一つになっています。 となり、様々な新しい用途が広がります。1 台の 接続性 MATRIX-F emission または MATRIX-F duplex に、最大 6 台のヘッドを同時接続することも可 新しい CMET ソフトウェアは業界標準のインター 能です。 フェース（OPC）を提供しています。これにより、以 下を含む幅広い標準の通信インターフェースとプロ MATRIX-F emission は、最大で 6 台の光ファイバー  トコルを使用して、あらゆるプロセス管理環境にシ  NIR 照射および検出ヘッドを操作するための専用 ステムを組み込むことができます。 の装置ですが、MATRIX-F duplex 分光計は、光フ ァイバーヘッドと従来の光ファイバープローブの両 4-20 mA Profibus DP Modbus 方を操作することができます。 イーサネット OPC DDE RS485 RS232 Bruker Optics is ISO 9001 and ISO 13485 certified. 本製品に使用されている技術は、以下の特許により保護されています: US 7034944 Laser class 1 product. www.bruker.com/optics ブルカージャパン株式会社　オプティクス事業部 〒221-0022　神奈川県横浜市神奈川区守屋町3-9 B号ビル6階 Phone: 045-450-1601　Fax: 045-450-1602 [大阪オフィス] 〒532-0004大阪府大阪市淀川区西宮原 1-8-29 テラサキ第2ビル Phone: 06-6394-8118　Fax: 06-6394-9003 marketing.bopt.jp@bruker.com 製品の外観・仕様等については、改良のため予告なく変更する場合があります。  © 2019 Bruker Optics BOPT-4001250-01