幅広い対象物を非接触で測定する、国内トップシェアのレーザー干渉計。
・平面測定システム
ガラス、金属、セラミック等高精度平面板の平面度測定、透過波面測定に最適。
・球面測定システム
各種光学ガラスレンズ、プラレンズ、金属の球面形状測定に最適。
・縞解析装置
干渉計とセットで使用することにより干渉縞を解析し、
表面形状や透過波面形状を数値化、ビジュアル化します。
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このカタログについて
| ドキュメント名 | FUJINON MEASURING SYSTEM 干渉計総合カタログ |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 9.8Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 富士フイルム株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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