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FUJINON MEASURING SYSTEM 干渉計総合カタログ

製品カタログ

幅広い対象物を非接触で測定する、国内トップシェアのレーザー干渉計。

・平面測定システム
 ガラス、金属、セラミック等高精度平面板の平面度測定、透過波面測定に最適。
・球面測定システム
 各種光学ガラスレンズ、プラレンズ、金属の球面形状測定に最適。
・縞解析装置
 干渉計とセットで使用することにより干渉縞を解析し、
 表面形状や透過波面形状を数値化、ビジュアル化します。

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このカタログについて

ドキュメント名 FUJINON MEASURING SYSTEM 干渉計総合カタログ
ドキュメント種別 製品カタログ
ファイルサイズ 9.8Mb
登録カテゴリ
取り扱い企業 富士フイルム株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧)

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