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き裂成長モニタ DCM-2(直流電位差法)

製品カタログ

金属疲労試験・引張り試験における「き裂」の伸展を高感度にモニタリング

日本ハイコンの「DCM-2」は、英国マテレクト社が永年にわたる研究と経験により開発したパルス式直流電位差法(DCPD法)により、金属のき裂の成長をモニタする測定器です。同社のパルス式DCPD法は、供給電源をパルス化することによって、DCPD法の欠点であった熱起電力の発生をおさえ、安定した測定結果が得られる優れた技術です。大型の液晶表示画面を採用し、簡単な操作で使用できます。
【用途】
・安定き裂成長過程の研究
・き裂の寸法評価
・動的き裂発生と成長の研究
・試験片への予き裂導入時のモニタリング
・疲労による割れ成長に関する研究
・応力腐食割れの研究
・材料劣化の研究
・き裂発生時のモニタリング

このカタログについて

ドキュメント名 き裂成長モニタ DCM-2(直流電位差法)
ドキュメント種別 製品カタログ
ファイルサイズ 572.8Kb
取り扱い企業 日本ハイコン株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧)