金属疲労試験・引張り試験における「き裂」の伸展を高感度にモニタリング
日本ハイコンの「CGM-7」は、英国マテレクト社が永年にわたる研究と経験により開発した交流電位差法（ACPD）により、金属のき裂の成長をモニタする測定器です。同社が開発した「CGM-5R」の、高い安定性と超高分解能自動位相設定機能を引き継いでいます。マイクロプロセッサをベースとして必要な設定を、前面のディスプレイに表示されるメニュープログラムによって行うことができる、最新鋭のポータブル測定器です。
【用途】
・安定き裂成長過程の研究
・き裂の寸法評価
・動的き裂発生と成長の研究
・試験片への予き裂導入時のモニタリング
・疲労による割れ成長に関する研究
・応力腐食割れの研究
・材料劣化の研究
・き裂発生時のモニタリング
このカタログについて
| ドキュメント名 | き裂進展モニタ CGM-7（交流電位差法） |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 572.8Kb |
| 取り扱い企業 | 日本ハイコン株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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