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株式会社渋谷光学のカタログ一覧

株式会社渋谷光学のカタログ一覧

反射率測定装置 MSP-100B/MSP-100IR/MSP...

微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定を、かつてない低コストで実現

●スポットサイズが小さく、微小点の測定が可能 ●測定時に背面の光が入り込まず、すりガラスや黒塗りによる消光処理が不要 ●レンズと平面の両方を測定可能 ●操作が簡単で使いやすく、ソフトウェアのインターフェースもシンプル ●可視光とUVには背面照射型...

システム実体顕微鏡CREATIVE SM2000/CREAT...

渋谷光学は中国企業とのパートナーシップを活かしコストパフォーマンスの高い顕微鏡を提供...

●高い分解能:プランアポクロマート対物レンズ採用で高NA、高解像度画像を取得、サンプルの色彩を正確かつ忠実に観察します。 ●マクロからミクロまで:20:1のズーム比(0.75-15X)を実現、超長作動距離での同焦点距離対物を採用し、マクロ観察からミクロ...

レーザー平面干渉計G100M

中国の光学機器の大手メーカーであるSHINE OPTICS社の高品質で低価格なレーザ...

100mmの有効開口を備えたG100Mは、正立式構造を採用し平面部品の平置き測定・高精度測定に適します。 高性能で長寿命のレーザー・高解像度の光学系・1~6倍の画像拡大機能・精密な平面標準ミラーなど最先端の技術を結集して高精度な平面光学部品の測定を実現...

レーザービアカッター

ベッセルビームの原理を利用し、レーザー光の集光焦点深度を伸ばす一体加工ヘッドユニット

●0.15mm~5mmの広範囲内で、幅広い焦点深度をご提供可能 ●加工端面が鏡面に近い効果を実現、簡単にブレーキング可能 ●同軸結像光学系と合わせて使用すれば、精密加工の同時観察が実現可能 ●対応波長 532nm、1064nm お客さまの用途...

【開発中/専用対物レンズ不要】標準対物レンズで明視野・暗視野...

LEDアレイによるプログラム照明により、明視野観察だけでなく専用対物レンズが必要だっ...

●プログラムLEDアレイによる照明で、暗視野観察、位相差観察時の専用対物レンズ不要 ●照明方法の選択だけで、簡単に各照明方法による像の比較が可能。試料に応じた最適な照明方法選択を容易に ●透過照明はLEDアレイのみなので、コンパクトな設計を実現。機械...

近赤外対物レンズ M iPLAN APO NIRシリーズ

ガラス基準スケール

渋谷光学のガラス基準スケール・高反射ガラススケール・石英基準スケールをご紹介します。

渋谷光学のガラス基準スケールは精度が極めて高く、また多数の測定長・ピッチ・線幅・素材の商品を標準品として取り揃え、お客様の高品質・低価格・短納期のご要望にお応えしております。特注品制作の実績も豊富ですので、お気軽にお問い合わせください。 渋谷光学のホー...

近赤外CMOSカメラACH100-NIR

SiOnyxブラックシリコンセンサ-搭載近赤外CMOSカメラ

365nm~1400nmの波長帯域に対して高い感度を有するカメラ 特に900nm~1400nmの近赤外域の観察において、低コスト・高パフォーマンスを実現

近赤外CMOSカメラ付赤外顕微鏡システム

LED近赤外同軸落射照明を搭載しており、簡単に近赤外顕微鏡画像を観察、撮影できます。

渋谷光学ではお客様の環境に合わせてベストな顕微鏡システム設計をご提案をさせていただいております。 顕微鏡関連でお困りの事は、お気軽にお問い合わせください。大手の光学メーカーでは高額になる特注品の製作もリーズナブルな 価格でご提供いたします。デモ機の貸...

超長作動距離明視野対物レンズ HLB M Plan Apo ...

超長作動距離明視野対物レンズ HLB M Plan Apo シリーズ カタログのご案...

新価格で最高のコストパフォーマンスをご提供いたします。 一つ一つ、当社で設けた検査基準をクリアした商品を出荷しております。 デモ機の貸出しなどのご要望にも柔軟にお応えしております。 在庫や納期についてはお手数ですがお問い合わせください。 ●作...

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