微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定を、かつてない低コストで実現
●スポットサイズが小さく、微小点の測定が可能
●測定時に背面の光が入り込まず、すりガラスや黒塗りによる消光処理が不要
●レンズと平面の両方を測定可能
●操作が簡単で使いやすく、ソフトウェアのインターフェースもシンプル
●可視光とUVには背面照射型CCDセンサーを採用し、高い感度と信号対雑音比を実現
●赤外線にはInGaAsセンサーを採用し、赤外領域に対する高い感度を持つ
このカタログについて
| ドキュメント名 | 反射率測定装置 MSP-100B/MSP-100IR/MSP-100UV |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 3.8Mb |
| 関連製品 | |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社渋谷光学 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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反射率測定装置
MSP-���B/IR/UV
微小領域 × 高感度 × 簡単測定
✓□ 微小スポット測定（φ��μm）
✓□ 背面光の影響なし（前処理不要）
✓□ 可視～UV～IR 対応
✓□ レンズ・平面どちらも測定可能
高感度 CCD・InGaAs センサーで高 S/N 測定を実現
測定波長 性能 装置仕様
B： ���‒����nm 再現性：±�.��% 電源：���‒���V
IR： ���‒����nm 分解能：�nm 寸法：W���×H���
×D���mm
UV： ���‒ ���nm 測定時間：数秒 重量：��kg
高性能とコストバランスを両立した
反射率測定ソリューション
詳細仕様はこちら
株式会社 渋谷光学
〒351-0111 埼玉県和光市下新倉3-22-2 渋谷光学で検索
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