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株式会社渋谷光学のカタログ一覧

株式会社渋谷光学のカタログ一覧

反射率測定装置 MSP-100B/MSP-100IR/MSP...

微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定を、かつてない低コストで実現

●スポットサイズが小さく、微小点の測定が可能 ●測定時に背面の光が入り込まず、すりガラスや黒塗りによる消光処理が不要 ●レンズと平面の両方を測定可能 ●操作が簡単で使いやすく、ソフトウェアのインターフェースもシンプル ●可視光とUVには背面照射型...

ガラスキャリブレーションプレート

渋谷光学ではグリッド・チェッカー・ドットと3つパターンから3タイプ・各サイズにてご用...

ガラスキャリブレーションプレートは撮像されたプレートの画像を用いて、ロボットハンドラーや移動ステージの較正や点検・ レンズのディストレーション補正等に使用します。 渋谷光学では、グリッド・チェッカー・ドットと3つパターンから3タイプ・各種サイズにて、...

ガラス基準スケール

渋谷光学のガラス基準スケール・高反射ガラススケール・石英基準スケールをご紹介します。

渋谷光学のガラス基準スケールは精度が極めて高く、また多数の測定長・ピッチ・線幅・素材の商品を標準品として取り揃え、お客様の高品質・低価格・短納期のご要望にお応えしております。特注品制作の実績も豊富ですので、お気軽にお問い合わせください。 渋谷光学のホー...

超短パルス YAG & Yb レーザー

レーザー微細加工の高スループット化に新しいソリューション

Leonisシリーズ/Herculesシリーズ 当社の産業用高出力超高速パルスレーザは、ファイバーシードと固体増幅技術を採用し、光学、機械、電気モジュールを統合することにより、コンパクトな設置面積を実現 繰り返し周波数は1Hzから6MHzまで調整...

システム実体顕微鏡CREATIVE SM2000/CREAT...

渋谷光学は中国企業とのパートナーシップを活かしコストパフォーマンスの高い顕微鏡を提供...

●高い分解能:プランアポクロマート対物レンズ採用で高NA、高解像度画像を取得、サンプルの色彩を正確かつ忠実に観察します。 ●マクロからミクロまで:20:1のズーム比(0.75-15X)を実現、超長作動距離での同焦点距離対物を採用し、マクロ観察からミクロ...

レーザー平面干渉計G100M

中国の光学機器の大手メーカーであるSHINE OPTICS社の高品質で低価格なレーザ...

100mmの有効開口を備えたG100Mは、正立式構造を採用し平面部品の平置き測定・高精度測定に適します。 高性能で長寿命のレーザー・高解像度の光学系・1~6倍の画像拡大機能・精密な平面標準ミラーなど最先端の技術を結集して高精度な平面光学部品の測定を実現...

レーザービアカッター

ベッセルビームの原理を利用し、レーザー光の集光焦点深度を伸ばす一体加工ヘッドユニット

●0.15mm~5mmの広範囲内で、幅広い焦点深度をご提供可能 ●加工端面が鏡面に近い効果を実現、簡単にブレーキング可能 ●同軸結像光学系と合わせて使用すれば、精密加工の同時観察が実現可能 ●対応波長 532nm、1064nm お客さまの用途...

【開発中/専用対物レンズ不要】標準対物レンズで明視野・暗視野...

LEDアレイによるプログラム照明により、明視野観察だけでなく専用対物レンズが必要だっ...

●プログラムLEDアレイによる照明で、暗視野観察、位相差観察時の専用対物レンズ不要 ●照明方法の選択だけで、簡単に各照明方法による像の比較が可能。試料に応じた最適な照明方法選択を容易に ●透過照明はLEDアレイのみなので、コンパクトな設計を実現。機械...

近赤外対物レンズ M iPLAN APO NIRシリーズ

近赤外CMOSカメラACH100-NIR

SiOnyxブラックシリコンセンサ-搭載近赤外CMOSカメラ

365nm~1400nmの波長帯域に対して高い感度を有するカメラ 特に900nm~1400nmの近赤外域の観察において、低コスト・高パフォーマンスを実現

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