"半導体製造装置"
"Physik Instrumente"
の製品検索結果:2件中 1-2件を表示
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Physik Instrumente
H-811 | PI社製 高速・高精度の小型ヘキサポッド
販売元情報はありません
コンパクト・高剛性・10- 6hPa までの真空対応可能
Physik Instrumente
H-840 | 高速動作・中程度耐荷重が特長のパラレルキネマティック・ヘキサポッド
販売元情報はありません
デモ機あり
耐荷重30Kgの6軸ステージ
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ダイシングマシン:AD20T/S
(1)
ドレッシングプレート
(1)
ダイシングマシン:SS20
(1)
メタルブレード YM/AMシリーズ
(1)
プロービングマシン:UF200R
(1)
ウェーハエッジグラインディングマシン:W-GM-5200
(1)
プロービングマシンネットワーク:VEGANET
(1)
CLIOS用ペリクル検査・貼り付けシステム
(1)
ChaMP: 300mmウェーハ対応モデル
(1)
ハブタイプブレード FTB/CCB シリーズ
(1)
メタルブレード HMシリーズ
(1)
位相差/透過率測定装置
(1)
マスクブランクス欠陥検査装置
(3)
位相シフト量測定装置
(1)
ニッケルブレード DSタイプ
(1)
ウェーハエッジグラインディングマシン:W-GM-4200
(1)
ポリッシュ・グラインダ:PG3000RMX
(1)
プロービングマシンネットワーク:VEGA PLANET
(1)
リソグラフィプロセス検査装置
(1)
プロービングマシン:FP2000
(1)
卓上型太陽電池変換効率分布測定機
(1)
メタルブレード GMシリーズ
(1)
LI712用ペリクル検査・貼り付けシステム
(1)
レーザダイシングマシン:ML200Plus FH
(1)
EUVマスク裏面検査/クリーニング装置
(1)
高剛性研削盤:HRG300/HRG300A
(1)
ウェハ欠陥検査/レビュー装置
(1)
ニッケルブレード MNタイプ
(1)
ダイシングマシン:SS10
(1)
プロービングマシンネットワーク:LIGHTVEGA
(1)
プロービングマシン:UF3000EX-e
(1)
大型マスクブランクス欠陥検査装置
(1)
膜厚ムラ検査装置
(1)
プロービングマシン:UF60A
(1)
ウェハエッジ検査装置
(1)
ニッケルブレード GSタイプ
(1)
液晶用10世代対応大型マスク欠陥検査装置
(1)
プロービングマシン:FP3000
(1)
プロービングマシンネットワーク:GEM Network System
(1)
フォトマスク欠陥検査装置
(2)
ダイシングマシン:AD3000T/S
(1)
プロービングマシン:UF190R
(1)
プロービングマシン:UF3000EX
(1)
太陽電池分光感度分布測定機
(1)
剥離洗浄機:C-RW-200/300
(1)
位相差測定装置
(1)
ChaMP:小型CMP装置
(1)
オートマチック・クリーニングシステム:A-CS-100A
(1)
EUVLマスク・サブストレート/ブランクス検査装置
(1)
レーザダイシングマシン:ML300Plus Ⅱ WH
(1)
レジンブレード NMR シリーズ
(1)
塗工ムラスキャニングシステム
(1)
DUVマスクレビューステーション
(1)
パワーデバイス測定システム:Fortia
(1)
大型フォトマスクパターン欠陥検査装置
(1)
ペリクル/フォトマスク異物検査装置
(1)
超硬メタルソー
(1)
ウェーハエッジグラインディングマシン : W-GM-6200
(1)
太陽電池変換効率分布測定機
(1)
プロービングマシン:UF2000
(1)
ダイシングマシン:PS280Plus
(1)
ウェハバンプ検査測定装置
(1)
中大型フォトマスクパターン欠陥検査装置
(1)
ダイシングマシン:SS30
(1)
プロービングマシン:UF50A
(1)
透明ウェハ欠陥検査/レビュー装置
(1)
ダイシングマシン:AD2000T/S
(1)
TSV裏面研磨プロセス測定装置
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マスク欠陥検査装置
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