光干渉式膜厚計 IRMS8599Sの製品概要
IRMS8599Sは測定対象の薄膜に投光し、表面反射光と裏面反射光による干渉から膜厚を測定します。膜厚が厚くなるほど、反射率スペクトルに現れる波（干渉波）の数が増加する原理を利用して膜厚を計測します。検量線が不要で、高精度な計測が行えます。RS-485通信・アナログ出力機能搭載連続分光方式でFFT解析、CF（カーブフィッテング）解析が可能最大4層を同時計測使用温度0～50℃、IP65（防塵防滴構造）
光干渉式膜厚計 IRMS8599Sの 型式一覧 (1件)
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光干渉式膜厚計 IRMS8599Sの関連ドキュメント
| 製品カタログ | ダウンロード |
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光干渉式膜厚計 IRMS8599Sの詳細情報
| メーカー | チノー |
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