光干渉式膜厚計 IRMS8599S Product Description
IRMS8599Sは測定対象の薄膜に投光し、表面反射光と裏面反射光による干渉から膜厚を測定します。膜厚が厚くなるほど、反射率スペクトルに現れる波（干渉波）の数が増加する原理を利用して膜厚を計測します。検量線が不要で、高精度な計測が行えます。RS-485通信・アナログ出力機能搭載連続分光方式でFFT解析、CF（カーブフィッテング）解析が可能最大4層を同時計測使用温度0～50℃、IP65（防塵防滴構造）
光干渉式膜厚計 IRMS8599S Models (1)
| Model Image | Model Number | Model Name / Description | Best Price | Supplier |
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IRMS8599S | - (See model) | - | Seller is not registered |
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IRMS8599S - Seller is not registered |
光干渉式膜厚計 IRMS8599S Documents
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光干渉式膜厚計 IRMS8599S Details
| Manufacturer Brand | CHINO |
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