フォトマスク欠陥検査装置 Product Description
28nmノード以降の半導体デバイス用フォトマスク欠陥検査装置
フォトマスク欠陥検査装置 Models (2)
| Model Image | Model Number | Model Name / Description | Best Price | Supplier |
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MATRICS X700HITシリーズ | - (See model) | - | Seller is not registered |
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フォトマスク欠陥検査装置 Details
| Manufacturer Brand | レーザーテック-en |
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