粒子・噴霧計測システム

Solution for Measurement System 粒子・噴霧計測システム Particle & Spray Measurement system ライフサイエンスやマテリアルサイエンスなど様々な分野で活用されている粒子の粒径、噴霧状態の流速と粒径の同時 計測、粒度分布計などをご提案、研究開発や品質管理の向上に寄与します。 レーザー回折法(フラウンフォーファー )、位相ドップラー法、画像法(シャドウグラフ)、レーザー励起加熱法によるス ス計測、TOF法などさまざまな技術で粒子計測のご要望にお応えします。 FLD PDI シャドウグラフ LII 粒度分布計 粒子分析計 噴霧粒径・流速同時計測 すす粒径 手法の違いによる 0.1μm　レーザー回折式粒度分布計（FLD） 計測レンジ 0.5μm　位相ドップラー式粒子分析計（PDI） 10μm　シャドウグラフ法（画像法） レーザー回折式粒度分布計 NEW! レーザーが粒子を通過する際に、粒径によって錯乱光の光の角度によって強度分布が異 なる現象を利用した粒度分布計です。0.1μ～の幅広いレンジのモデルを備えており、 高精度でありながら低価格を実現しました。 体積粒子径（V10、V50、V90）、数粒子径（N10、N50、N90）、ザウター粒子径（SMD）、 体積分布表示、ロージンラムラー分布、Logスケール分布等、多彩な表示に対応します。  ◆ これまでにない低価格（業界最安値※）を実現 ◆ 受光部を動かした際の再アライメント不要 ◆ 平行光によりレーザー発光部と受光部が分離 ◆ 操作が容易なソフトウエア FLD-3008A FLD-3008B FLD-802 FLD-311 FLD-319A FLD-319B FLD-319C FLD-99E 測定原理 フラウンフォーファー式レーザー回折 光子相関法 フラウンフォーファー式レーザー回折 画像法 方式 乾式(空気分散型) 湿式 乾式 - 粒子径 0.1μm-2000μm 0.1μm-1200μm 1-10000nm 0.1μm～100μm 1μm～500μm 1μm～1000μm 1μm～2000μm 1-6000μm 計測精度 〈　1% (CRM D50) 〈　1% 〈　1% (CRM D50) - 再現精度 〈　1% (CRM D50) 〈　1% 〈　1% (CRM D50) - データレート - - ● このカタログに記載された製品は、予告無しに2デKザHイzン及び、仕様を変更する場合がございます。 - ！ 安全に関するご注意 ご使用前に〈製品仕様書〉をよくお読みの上、正しくお使いください 使用レーザー ヘリウムネオンレーザー 632.8nm 半導体レーザ●ー 記載の会社名及び製品名は、各社の商標又は登録商標です。 p>2.0mW 532nm 半導体レーザー 650nm p>1mW - 計測エリア - - 6cm 固定 0.1 ～ 10m 可変 - 寸法 L1040×W440× H540mm L480×W270× L660×W260× 発光部 : L369×W295× H360mm H170mm H450mm 受光部 : L858×W295× H360mm 顕微鏡サイズに依存 重量 58kg 12kg 19kg 発光部 : 23kg　受光部 : 45kg 顕微鏡重量に依存 〒1特0徴7－0052 東京都側港方区デ赤テク坂タ4ー－有9(－高6精 タ度)ク赤坂ビ高ル分解能(8ns) 卓上型 平行光/セパレート式につき測定エリア可変 画像法につき TEL：03－3405－1280　FAX：03－3405－1282 形状解析可 mail：info@seika-di.com website：www.seika-di.com ※当社調べによる

位相ドップラー式粒子分析計 PDI Solution for Measurement System 2本のレーザー光を交差させた際に生じる干渉縞を、計測対象の粒子・液滴を通過させることで粒径、流速を同時測定するシステムです。 一体型のフルターンキー方式で1D、2Dなど様々な機器をラインナップ。 ◆ インクジェット対応モデル NEW! ◆ 噴霧粒子の速度、粒子径、Flux、個数密度を同時計測 ◆ 時系列計測可能 ◆ ポイント計測（空間分解能の精度） ◆ 高い計測精度と繰り返し性 ◆ 高速データ取り込み・解析 ◆ 発光系・受光系分離型とワンパッケージタイプ有り 1D-PDI 2D-PDI 3D-PDI TK-1 TK-2 方式 レーザードップラー式 TK2-75 : 0.5～75μm TK1-150 : 1～150μm 粒子径 TK2-300 : 1.5～300μm0.5～3,000μm (球形粒子) TK1-300 : 1.5～300μm TK2-600 : 3～600μm TK1-600 : 3～600μm TK2-1200 : 6～1200μm 粒子径計測精度 ±0.3μm - - TK2-75 : -75～250m/sec TK1-150 : -200～500m/sec 測定可能流速 TK2-300 : -200～800m/sec-100～400m/sec TK1-300 : -400～1000m/sec TK2-600 : -450～1500m/sec TK1-600 : -900～2000m/sec TK2-1200 : -900～3000m/sec 流速精度 ±0.1% - - 最大データレート 250,000/sec - - レーザー出力 150mW、300mW、500mW、1W から選択可 - - 計測成分 粒子径、速度同時計測 粒子径、UV成分速度同時計測 - - ワーキングサークル - - - φ83mm φ183mm 重量 - - - 2.63kg 2.86kg シャドウグラフ ( 画像粒子計測法 ) 計測対象物のバックグラウンドから光源を当てる事により、 影絵のように浮かび上がらせ撮影した画像から解析。 粒径解析専用ソフトを用いる事で、多様な手法で粒径解析が可能になります。 シャドウグラフシステム 色素シャドウグラフシステム 計測結果 資料提供：山形大学様 ● このカタログに記載された製品は、予告無しにデザイン及び、仕様を変更する場合がございます。 ！ 安全に関するご注意 ご使用前に〈製品仕様書〉をよくお読みの上、正しくお使いください ● 記載の会社名及び製品名は、各社の商標又は登録商標です。 〒107－0052 東京都港区赤坂4－9－6 タク赤坂ビル TEL：03－3405－1280　FAX：03－3405－1282 mail：info@seika-di.com website：www.seika-di.com 粒子 -002-dE