スクリーニング用／信頼性評価用 バーンインシステム カタログのご案内です。
半導体デバイスや電子部品に温度や電気的ストレスを加え、初期故障品のスクリーニングに効果を発揮するバーンインシステムです。
量産品スクリーニング用から信頼性評価用までデバイス品種／処理数、温度範囲、印加信号等のニーズに沿った機能を付加したシステムの製作が可能です。
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このカタログについて
| ドキュメント名 | スクリーニング用／信頼性評価用 バーンインシステム |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 718.8Kb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 大村技研株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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