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【技術紹介】XTIAの“光コム”技術

ホワイトペーパー

ノーベル賞技術「光コム」で実現した高精度3D計測技術をご紹介

XTIAセンサは「世界で最も正確なものさし」と呼ばれるノーベル賞技術 光周波数コム(光コム)をコア技術としています。XTIA はこの独自のレーザー技術を活用し、モノづくりシーンに高速かつ高精度の3D計測&Quality 4.0 ソリューションを提供します。

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このカタログについて

ドキュメント名 【技術紹介】XTIAの“光コム”技術
ドキュメント種別 ホワイトペーパー
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取り扱い企業 株式会社XTIA (この企業の取り扱いカタログ一覧)

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このカタログの内容

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XTIAの”光コム”技術 高速・高精度な3次元計測を可能とする光コム3Dスキャナ XTIAセンサは「世界で最も正確なものさし」と呼ばれ るノーベル賞技術 光周波数コム(光コム)をコア技 術としています。XTIA はこの独自のレーザー技術を 活用し、モノづくりシーンに高速かつ高精度の 3D 計 測 & Quality 4.0 ソリューションを提供します。 XTIAセンサは最速毎秒 50万データポイントを 取得できます。これにより従来の接触式3次元 測定よりも大幅に高速なスキャンを実現します。 中・大型部品で現実的なサイクルタイムでの自 動インライン3D検査に用いることが可能とな ります。 XTIAセンサは独自の同軸光学系で従来の光学セ ンサの障害となっていた照明の影の影響を回避 します。長い作動距離を持ち、穴や溝の奥の欠 陥を検査することができ、シリンダーヘッド、 バルブボディ、ディスクローターなどの複雑な 部品の完全な3Dプロファイルを提供します。 1
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XTIAの光コムセンサは1μmという高いz解像度を 実現しています。従来の接触式プローブと異なり、 XTIAの3Dセンサでは、へこみ、キズ、反り、バリ など、広範囲の3D微小欠陥を検出し、定量的な情 報を提供できます。製造された部品の品質評価の 信頼性を高め、生産プロセスを合理化します。 XTIAの光コムセンサは独自の干渉計による検出 システムを採用しており、画像センサなどで特 に問題となりがちな外乱光やハレーションの影 響を受けることを防ぎます。これにより、XTIA センサはあらゆる光環境の製造現場での使用に 最適です。 Optocomb Suite XTIAは光コム技術を最大限に活用する包括的なソフトウェア Optocomb Suite を提供してい ます。3D可視化、GD&T解析、微小欠陥検出、自動外観検査、寸法検査などの柔軟なツール ボックスを提供しています。 2
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Links & Resources • カタログ [pdf] • 光コム技術の紹介 [動画] • XTIA製品ラインアップ [動画] • 検査ソフトウェア Optocomb Suite [動画] • 事例1シリンダーヘッドの検査 [動画] • 事例2キズ・バリの検査 [動画] xtia.co.jp • 事例3バルブボディの検査 [動画] 3D Metrology and Quality 4.0 Solutions 株式会社XTIA(クティア) 〒140-0002 東京都品川区東品川3-32-42 ISビル 2階 TEL:03-6380-9807 URL:https://xtia.co.jp/ 3