先進の非接触ICカード評価装置　T8300MarkII

Page 1:先進の非接触ICカード評価装置ＩＣカード検査装置のトップリーダー株式会社テストラムT8300MarkII は近接型非接触ICカード（ISO/IEC14443 TypeA, TypeB,ISO/IEC18092 TypeC(Felica)準拠)の電気特性評価、通信特性評価、機能評価を行う装置です。ISO/IEC 10373-6の最新版に準拠したプロトコル検査機能を完全網羅しています。「ISO14443, 18092, 10373-6準拠」の安心を、あらゆる非接触ICカードに。

Page 2:多岐にわたる評価・分析機能を１台に集約ICカード開発・製造に必要な評価機能をオールインワンで装備コストパフォーマンスに優れた構成です■【電気特性評価機能】非接触ICカードの電気的特性を測定し、規定値に対する評価を行う機能ICカードへの送信信号・波形パラメータ可変し、応答性能評価を行う機能■【通信特性評価機能】ISOに規定されたICカードからの信号タイミングを測定し評価を行う機能■【通信プロトコル評価機能】ISO10373-6に完全準拠したテストシナリオの作成と実行機能有償対応が一般的な通信プロトコル検査機能を標準で搭載T8300MarkIIの特徴＜システム構成例＞電気特性評価機能半導体テスター技術を継承した性能長年培ったテストラムの半導体テスター技術をもってICカードの性能を保証■【電気特定評価】負荷変調レベル測定磁界ストレス性能評価■【送信信号・波形パラメータ可変・応答評価】磁界強度可変測定動作周波数可変測定変調度・変調波形可変測定Bit rate可変測定信号起動時間可変測定信号タイミング可変測定

Page 3:通信特性評価機能受信信号評価機能で、ISO/IEC 14443 -3 -4に規定の 信号タイミングを測定・評価します。【 Type A 】1. Frame delay time PCD to PICC (for REQA,WUPA,ANTICOLLISION,SELECT)2. RATS and Deactivation frame waiting time3. Frame delay time PCD to PICC (for frames other than previous rows)【 Type B 】1. SOF low2. SOF high3. EOF low4. Bit boundaries5. EGT PICC to PCD6. TR0 for ATQB7. TR1 for ATQB8. TR0 Not ATQB9. TR1 Not ATQB10.TR211.Delay from the end of EOF and Subcarrier12.Deactivation frame waiting time【 Type C 】1. Frame Delay time for polling command2. Response frame time for polling command3. Preamble通信プロトコル評価機能最新版のISO10373-6で規定されたプロトコル検査に完全準拠。APDU記述に加え、以下の機能を用意に実現する独自コマンド群(APX)を提供。1） 暗号化、復号化機能2） エラーチェックコード計算機能3） ブレークポイント設定機能4） 期待DATAとの比較機能5） 論理演算機能6） 数値演算・変換機能7） 条件分岐機能8） タイマー機能9） テストシナリオのネスト機能10) テストシナリオ内での送信信号可変機能11）テストシナリオ内でのタイミング測定機能12）ＡＰＤＵ記述の自動連鎖機能13) 判定機能

Page 4:株式会社テストラムhttp://www.testram.co.jp仕 様基本機能送信信号設定ポーリングテストシナリオ（APX）編集・実行パラメータShmoo評価波形モニタータイミング測定負荷変調測定解析用トリガー出力設定磁界強度、変調度、応答レベル校正機能DSO計測フーリエ変換システム構成T8300MarkII本体PCモニターPCD TX/RXアンテナ校正コイル接続ケーブル電 源 ＡＣ100Ｖ ～ 200Ｖ環 境動作温度 : 23℃±3℃（性能保証）10℃～45℃（動作保証）保存温度 : 0℃～50℃湿 度 ： 相対40～60％仕 様■【本社】〒561-0871 大阪府豊中市東寺内14-29 ☎06-6821-3557 Fax06-6821-3561■【東京支店】〒102-0071 東京都千代田区飯田橋1-12-1 ☎03-3515-6416 Fax03-3515-6417
Page