ワイド冷熱プレート CHP-3050HS

ワイド冷熱プレート CHP-3050HS ワイドな加熱＆冷却プレートで 複数サンプルの温度特性同時測定可能です 特 長 温度試験プレートの温度範囲は 5℃～80℃の広範囲な冷却・加熱が可能です 温度試験プレートサイズは約 300mmｘ500mmでワイドな均熱面積が得られます 冷却加熱部は高信頼の日本製ペルチェ素子使用 繰返しテストでの耐久性を保証 温度コントローラ内蔵のオールインワンですので、即座に本格的な温度特性試験を開始できます 温度センサーの校正や動作確認に、実験室・製造現場でお手軽に御使用できます 薬品・化成品・食品の温度環境試験や保存にご使用ください デバイス・計測機器の温度試験に最適です 特許出願中 仕 様 型 式 CHP-3050HS 使用デバイス CHP-77BX 空冷式ペルチェユニット 温度範囲 (℃) +5℃ ～ ＋80 (室温 25℃) 温度調節器 SDC15 (アズビル社製) プレート寸法 (mm) 300 x 500 プレート温度分布 (℃) ±2 温度制御精度 (℃) ±1.0 温度センサー Pt100 白金測温抵抗体 外観寸法 (mm) 340 x 540 x 260(H) 電源電圧 (V) ／ 電流 (A) AC 100 / 5 透明アクリル蓋外観寸法 (mm) 340 x 540 x 20(H) センサーコントロールズ株式会社 http://www.scnt.co.jp/ 〒231-0005 横浜市中区本町１－７ 東ビル５Ｆ TEL: 045 (664) 6721 FAX: 045 (664) 6724