産業用SSD M.2 2242 SATA3 シリコンパワーMDA3K0Eシリーズ

製品の特徴 • 高品質の 3D TLC NAND フラッシュ技術搭載 • グローバルウェアレベリングと初期不良ブロックの検出 • TRIM、NCQ、DEVSLP コマンド対応と ATA セキュリティ機能 • 製品寿命の向上 Direct-to-TLC と SLC キャッシュ向上により、WAF 最適化を実現 ブロック/ページ RAID 機能でデータ復旧を確実に スタティックデータリフレッシュによるデータ完全性を確保 • 高信頼性インダストリアルグレードの統合アクティブ PMU および OVP、OCP、サージ除去、短絡保護を備えた完全な保護設 計 • パワーシールド FW アーキテクチャにより電断耐性を確保 • AES256 暗号化および TCG Opal2.0 準拠(ご要望に応じて) • SP SMART Toolbox 対応 • SP SMART Embedded と SMART IoT サービス対応(ご要望に応じて) • ネイティブコマンドが最大 32 コマンド対応可能 • ガベージコレクションと TRIM データセット管理 コマンド • グローバルウェアレベリングアルゴリズムによって P/E サイクルを平均化する

製品概要 • 容量：64GB, 128GB, 256GB, 512GB • フォームファクタ：M.2 2242 SATA Solid State Drive (42 mm x 22 mm x 3.5 mm) • インタフェース：SATA Revision 3.1 - 6 Gbit/s (3 Gbit/s and 1.5 Gbit/s backward compatible) • コマンドセット：Supports ATA/ATAPI-8 and ACS-2 • 性能： 64GB 128GB 256GB 512GB シーケンシャルリード (MB/s Max.) 480 500 500 500 シーケンシャルライト (MB/s Max.) 280 230 460 520 ランダム 4K リード (IOPS Max.) 20000 17000 28000 29000 ランダム 4K ライト (IOPS Max.) 49000 53000 82000 86000 *仕様と容量によって実際のパフォーマンスは異なります • 動作温度範囲： 通常：0°C to 70°C • 保存温度範囲：-55°C to 95°C • 動作電圧：3.3V ± 10% • 消費電力： (単位: W) 64GB 128GB 256GB 512GB 読み出し (Max.) 470 470 480 500 書き込み (Max.) 425 400 525 570 スタンバイ (平均) 130 130 130 130 *仕様と容量によって実際の数値は異なります • データ保存 @40 °C : 製品使用初期 10 年、寿命近く 1 年 • 耐久性(TBW) : (単位: TB) Workload 64GB 128GB 256GB 512GB Sequential 91 182 364 728 Enterprise 25 51 101 202 TBW 計算公式 TBW = (Capacity x PE Cycles) x (1+OP) x (WLE) / (WAF) OP (Over Provision) = (Physical Capacity / Logical Capacity)-1 WAF = Write Amplification Factor WLE = Wear Leveling Efficiency Workload または使用したデータサイズとアクセスレートによって異なる可能性があります Sequential workload：VDBENCH スクリプトにより生成され、テストされます Enterprise workload：JESD219A の定義に従い、VDBENCH スクリプトにより生成され、テストされます • 環境試験(IEC-60068) : 振動 : 15G, 10 ~ 2001Hz 落下 : 76cm 衝撃 : 1,500G@0.6ms • LDPC ECC engine と Block/Page RAID による 3K PE cycles の信頼性を確保します • MTBF > 2,000,000 時間 データ信頼性：Non-recover Read (UBER) ≤1016 • • 厳密な品質管理と保証 100％NAND フラッシュ選別 高耐久性製品設計で 3D NAND 製品を提供する 設計仕様を満たすため、各生産ロットで高温/低温のダイナミックバーンインテストを実施して、生産品質をモニターします 国際規格 IEC-60068/61000 に準拠した信頼性基準