微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定を、かつてない低コストで実現
●スポットサイズが小さく、微小点の測定が可能
●測定時に背面の光が入り込まず、すりガラスや黒塗りによる消光処理が不要
●レンズと平面の両方を測定可能
●操作が簡単で使いやすく、ソフトウェアのインターフェースもシンプル
●可視光とUVには背面照射型CCDセンサーを採用し、高い感度と信号対雑音比を実現
●赤外線にはInGaAsセンサーを採用し、赤外領域に対する高い感度を持つ
このカタログについて
| ドキュメント名 | 反射率測定装置 MSP-100B/MSP-100IR/MSP-100UV |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 348.8Kb |
| 関連製品 | |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社渋谷光学 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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