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3D計測+ナノカーボン+半導体ウエハー ナノ粗さ・高さ形状計測器TN-A1

製品カタログ

製品を紹介しています。

ナノ粗さ高さ計測器は、分解能0.2nmで高さ形状(表面粗さ・段差・角度・表面うねり など)を光学方式・非接触で3D計測致します。

このカタログについて

ドキュメント名 3D計測+ナノカーボン+半導体ウエハー ナノ粗さ・高さ形状計測器TN-A1
ドキュメント種別 製品カタログ
ファイルサイズ 1.1Mb
登録カテゴリ
取り扱い企業 ツクモ工学株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧)