電池・セラミック・磁性材料向け 非接触・非破壊で「水分ムラ・混合均一性」を可視化する技術ガイド

地色サンプル_角：□ ↓ コニカミノルタブルー 非接触・非破壊で可視領域及び目では見えない 近赤外領域の２次元スペクトルデータを取得可能！ 高機能デバイス材料の品質を左右する アクセントカラー サンプル ※多用しないよう注意 ↓ 見えない「水分」を可視化 枠線サンプル_角：□ 水分分布・混合均一性・乾燥状態を「面」で評価 ↓ 地色サンプル_角：○ 電池材料 セラミック ↓ 磁性粉末 導電ペースト 図形サンプル ↓ ハイパースペクトルカメラ 枠線サンプル_角：○ ↓

地色サンプル_角：□ 見えない「水分ムラ」を可視化し、不良原因解析を支援 ↓ コニカミノルタブルー 「点測定」から「面評価」へ 課題例 ハイパースペクトル 従来 カメラ 電池材料 アクセントカラー ・固体電解質吸湿 サンプル ・電極性能低下 水分を ・含水率ばらつき 水分計による ※多用しないよう注意 調べる 面で判定 ↓ セラミック材料 1点測定で 非接触・非破壊 ・焼結ムラ OK判定 ・クラック ・誘電特性低下 磁性材料 実際は 面内の水分の ・酸化による特性劣化 場所によって ・ペースト流動性変化 ばらつき 枠線サンプル_角：□ ・圧粉密度ばらつき 水分が異なる ↓ 場合がある を可視化 導電材料 ・分散不良 ・印刷不良 点測定では、見えない ・導電性ばらつき 品質リスクがあります！ ハイパースペクトルカメラで下記の工程のムラを評価できる可能性があります。 地色サンプル_角：○ 水分ムラ 混合ムラ 乾燥ムラ ↓ 水分/混合/乾燥ムラ 工程 による不良現象例 ・吸湿状態のばらつき 2 セラミック粉末 受入 ・ロット差 ◎ △ × ・保管環境差 ・添加剤偏析 粉体混合 ・分散不良 ○ ◎ × ・配合ばらつき ・粘度変動 スラリー・ペースト 調製 ・分散不良 ◎ ◎ × 図形サンプル ・組成ばらつき ↓ ・塗工筋 塗工・成形 ・厚み差 ○ ○ △ ・塗布むら ・端部過乾燥 乾燥 ・乾燥条件ばらつき ◎ × ◎ ・水分残渣のばらつき 枠線サンプル_角：○ 水分分布・混合均一性・乾燥状態を ↓ 非接触/非破壊「面」で可視化！

地色サンプル_角：□ 高機能デバイス材料の品質課題を可視化 ↓ コニカミノルタブルー 水分ムラ・混合ムラ・乾燥ムラを面で評価 ハイパースペクトル 通常画像 カメラによる 面内の水分分布 水分ムラ 水分分布イメージ 含水率ばらつき ロット差 アクセントカラー サンプル ※多用しないよう注意 含水率 ↓ 課題 高 低 ・性能ばらつき 不良原因解析支援 ・焼結不良 ・磁気特性低下 水分起因のばらつき要因把握 対象材料：固体電解質粉末・正極材・セラミック粉末・磁性粉末など 枠線サンプル_角：□ ↓ ハイパースペクトル 混合ムラ 通常画像 カメラによる 混合均一性イメージ 混合均一性 成分偏析 偏析 分散状態 成分Aの多い領域 課題 多 少 ・添加剤偏析 最適混合条件探索 地色サンプル_角：○ ・分散不良 ↓ ・配合ばらつき 品質安定化 対象材料：固体電解質・フェライト・磁性粉末・導電フィラーなど 3 ハイパースペクトル 乾燥ムラ 通常画像 カメラによる 乾燥状態 水分分布イメージ 水分残渣分布 塗工ムラ 成分偏析 水分残渣量 図形サンプル 課題 多 少 ↓ ・乾燥不足 条件出し迅速化 ・塗工ムラ ・性能ばらつき 歩留まり向上 対象材料：電極スラリー・導電ペースト・セラミックスラリー・半導体封止材など 枠線サンプル_角：○ 開発期間短縮 ↓ 導入効果 条件出し迅速化 ロット差解析 歩留まり改善

地色サンプル_角：□ ハイパースペクトルカメラで出来ること コニカミノルタブルー ↓ ハイパースペクトルカメラは、幅広い波長域で分光スペクトルを非接触で高速に取得することができ、人の目で出来ない高 度な判別・検査ができます。全ての材料・化合物は特有の分光波形(反射・吸収特性)を持ち、そのスペクトルを捉えます。 通常のカメラ画像 波長データの読み取り 解析画像 アクセントカラー サンプル ※多用しないよう注意 ↓ ハイパースペクトルカメラで撮影・解析 同じように 成分の違いが 見える物質 明らかに！ 枠線サンプル_角：□ ↓ SPECIM FXシリーズの波長範囲と主な用途 ハイパースペクトルカメラ「SPECIM」には使用シーンよって最適なカメラを選択頂けるよう豊富なラインアップを取り揃 えています。用途に合わせて可視域～近赤外、中赤外、遠赤外域までの広い波長範囲を高速測定できます。研究用・インラ イン用の主な「SPECIM FXシリーズ」のラインナップです。 可視 近赤外 評価項目 380 – 780 nm 900 – 2500 nm 水分分布 地色サンプル_角：○ 混合均一性 ↓ FX10 400 - 1000 nm FX17 900 – 1700 nm 乾燥状態 成分偏析 SX25 960 – 2500 nm 含水率ばらつき FX10 FX17 SX25 得られる効果 開発期間短縮 歩留まり向上 色計測 水分 不良原因解析支援 樹脂・有機物 条件出し迅速化 図形サンプル 動いてる ↓ サンプルを 次世代高機能デバイス材料の開発を支援します！ そのまま 計測できる ●このチラシに記載の内容、仕様および外観は都合により予告なしに変更する場合があります。 お気軽にお問合せ下さい！ 枠線サンプル_角：○ ↓