次世代電池の評価を高速化！電極表面・粉体混合状態の「非破壊・可視化」技術ガイド

地色サンプル_角：□ ↓ コニカミノルタブルー 非接触・非破壊で可視領域及び目では見えない 近赤外領域の２次元スペクトルデータを取得可能！ 次世代電池 アクセントカラー サンプル ※多用しないよう注意 ↓ 電池性能を左右する 「電極表面状態」と「粉体混合状態」 枠線サンプル_角：□ ↓ 見える化 地色サンプル_角：○ ↓ 見えないものを明らかにする 図形サンプル ↓ ハイパースペクトルカメラ 枠線サンプル_角：○ ↓

地色サンプル_角：□ ↓ 電極の表面状態の評価 コニカミノルタブルー 塗工ムラ、偏析、乾燥ムラを可視化 高精度の分析機器で、電極表面の解析評価をする場合 アクセントカラー ・表面を接触、破壊して分析する必要がある。 サンプル ・時間・コストもかかる。 ※多用しないよう注意 ↓ ハイパースペクトルカメラを使えば、 非破壊、非接触、高速で2次元（面）の測定で 下記の不良原因の間接的な傾向が、効率的に評価できる可能性があります。 枠線サンプル_角：□ 課題例 塗工ムラ 偏析 乾燥ムラ ↓ 電子伝導性低下 残留溶媒・水分 反応ムラ 内部抵抗増加 局所発熱 地色サンプル_角：○ 出力低下 寿命低下 ↓ 電極 2 試験サンプル 分析機器 接触･破壊 → 解析評価 時間･コストがかかる での解析 図形サンプル ↓ 膜厚の不均一 成分の偏り 残留溶媒・水分 電極表面 可視化 薄い 厚い 低い 高い 少ない 多い 枠線サンプル_角：○ イメージ 膜厚が厚い領域と薄い 活物質や導電材などの 乾燥が不十分な領域が ↓ 領域が混在 成分が局所的に偏在 存在 電極表面状態の間接評価に活用

地色サンプル_角：□ ↓ 粉体混合の均一性評価 コニカミノルタブルー 混合ムラ・偏析を可視化 高精度の分析機器で粉体混合状態を評価する場合 アクセントカラー ・抜き取り評価 ・時間がかかる ・全面評価できない サンプル ※多用しないよう注意 ハイパースペクトルカメラを使えば、下記の実現の可能性があります。 ↓ ・粉体全体の混合状態を見える化 ・配合比率だけでなく、偏析の位置まで可視化 ・最適混合条件の探索を効率化 枠線サンプル_角：□ 課題例 混合ムラ 偏析 ↓ 電子伝導性低下 反応ムラ 内部抵抗増加 地色サンプル_角：○ 出力低下・寿命低下 ↓ 正極活物質・固体電解質 粉末・導電助剤などの 3 試験サンプル 分析機器 抜き取り 一部のみの評価 での解析 時間・コストがかかる 図形サンプル ↓ 混合不足 良好な混合状態 成分の偏り 混合粉体 可視化 枠線サンプル_角：○ イメージ 少ない 多い 少ない 多い 少ない 多い ↓ 成分が偏った領域に存在 成分が均一に分布して 導電助剤や個体電解質 し混合が不十分な状態 おり、良好な混合状態 などが局所的に偏在 ※測定条件や粉体の種類により、色分布の見え方は異なります。

地色サンプル_角：□ ハイパースペクトルカメラで出来ること コニカミノルタブルー ↓ ハイパースペクトルカメラは、幅広い波長域で分光スペクトルを非接触で高速に取得することができ、人の目で出来ない高 度な判別・検査ができます。全ての材料・化合物は特有の分光波形(反射・吸収特性)を持ち、そのスペクトルを捉えます。 通常のカメラ画像 波長データの読み取り 解析画像 アクセントカラー サンプル ※多用しないよう注意 ↓ ハイパースペクトルカメラで撮影・解析 同じように 成分の違いが 見える物質 明らかに！ 枠線サンプル_角：□ ↓ SPECIM FXシリーズの波長範囲と主な用途 ハイパースペクトルカメラ「SPECIM」には使用シーンよって最適なカメラを選択頂けるよう豊富なラインアップを取り揃 えています。用途に合わせて可視域～近赤外、中赤外、遠赤外域までの広い波長範囲を高速測定できます。研究用・インラ イン用の主な「SPECIM FXシリーズ」のラインナップです。 可視 近赤外 中赤外 380 – 780 nm 900 – 2500 nm 3000 – 5000 nm 地色サンプル_角：○ ↓ FX10 400 - 1000 nm FX17 900 – 1700 nm FX50 2700 – 5300 nm SX25 960 – 2500 nm FX10 FX17 SX25 FX50 色計測 水分 黒プラ 樹脂・有機物 無機物・鉱物 図形サンプル ↓ 次世代電池関連の時間とコストのかかる解析を ハイパースペクトルカメラで効率的に！ ●このチラシに記載の内容、仕様および外観は都合により予告なしに変更する場合があります。 お気軽にお問合せ下さい！ 枠線サンプル_角：○ ↓