ATE/BTE/FTE 自動試験・計測システム・整備機材

ATE/BTE/FTE ⾃動試験・計測システム・整備機材 開発/運⽤・メンテナンス/近代化・改修・⽼朽化対応/リバースエンジニアリング 　SDKは⾃動試験・計測システム(ATE: Autmatic Test Equipment)の40年以上の経験を活かし、開発・運⽤・メンテナン ス・改修・⽼朽化対策・換装(Re-Host)・リバースエンジニアリングなど様々なソリューションをご提供いたします。 　航空宇宙業界・鉄道⾞両業界など30年を超える搭載電⼦機器⽤の整備・試験機材は同じく30年の寿命を求められます。 その為の整備機材は流⽤性・拡張性・⻑期運⽤性など⻑寿命化を求められます。また⼀⽅、⼀般産業電⼦機器⽤の製造⽤ 試験機やメンテナンス機器は、流⽤性・拡張性は勿論、短納期・低コストが求められます。 　SDKでは、⾃動試験・計測システムATEの開発段階から、運⽤・メンテナンス・改修・⽼朽化対策・換装まで、お客様の問題 解決にお役に⽴ちたいと考えております。お問合せをお待ちしております。 【テスト開発コンサルテーション】 お客様の⾃動試験への問題点の収集・分析・テスト開発のコンサルタント ・試験対象機器の試験要求及び品質管理データに基づき、試験要求仕様の明確化 ・試験要求仕様に基づき、開発するべき⾃動試験システムの開発 【テストシステム開発】 明確化された⾃動試験システムのコンセプト・仕様に基づくシステム設計・開発 ・システム設計・開発は出来る限り、IEEEやIEC(*注)などの国際標準に準拠し、流⽤性 /拡張性/⻑期運⽤性を確保しオープンアーキテクチャにて開発 ・試験システム本体は勿論、テスト⾔語、試験プログラム開発、治具/試験ケーブル開発、 GUI開発、テスト結果データ処理他もオープンアーキテクチャで構成 【⾃動試験システム運⽤サポート】 S-500 ・メンテナンス、試験機能の拡張、試験プログラムの変更、テスト結果データ処理フォーム変 更・作成、関連ソフトウェア開発など SDK-9000 ・ATLAS/ADA/FORTRAN/BASICなどの試験プログラムの移植・改修 (*注)国際標準機関 ・⽼朽化試験システムのリバースエンジニアリング。延命改修/近代化/枯渇計測機器の換 International Electrotechnical Commission 装/旧OS PCの換装など Institute of Electrical and Electronics Engineers ・⽼朽化試験システムの構成品（ユニット/プリント基板）の修理 【試験・計測仕様】 プリント基板テストoption SDK-9100 可搬型ATE 〇 アナログ信号⼊出⼒周波数　DC〜26.5GHz 〇 アナログ信号⼊出⼒電圧　200V（低圧回路） 〇 アナログ信号⼊出⼒電圧　⾼圧回路は別途仕様打合せ 〇 デジタル信号⼊出⼒　〜100MHz 〇 デジタル信号⼊出⼒　⾼速デジタルは別途仕様打合せ 〇 BUSインターフェイス CAN/LIN/FrexRay/RSxxxなど 〇 BUSインターフェイス MIL-1553B/1773/ARINC-429/629など 〇 LVDT/ Angle Position/Phase Angle/Syncro/Resolverなど 〇スイッチマトリクス/コンプレックスなど別途仕様打合せ □ プリント基板試験⽤テスタ PinPoint-Σ (option) ◇ 制御⽤コンピュータ　Windows/LINUX ◇ 試験⾔語　LabWindows、LabView、ATLAS、V-BASIC、C など ⾼集積モジュール型スイッチ 三協電精株式会社 http://sdk.jpn.com mail to : info@sdk.jpn.com 〒221-0006 川崎市中原区丸⼦通 2-447 東神電⼯ビル４F TEL 044-322-8460 FAX 044-3228461