用途に最適な1台が見つかる。 Keysight LCRメータ／インピーダンス・アナライザ 総合セレクションガイド

Keysight Technologies LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、 テストフィクスチャ 材料、半導体、コンポーネント、インサーキット測定ソリューション Selection Guide

02 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide 正確なインピーダンス測定のための業界標準 キーサイト・テクノロジーは、ヒューレット・パッカード、アジレ 間ない技術革新を経て、設計、製造されています。キーサイトで ント・テクノロジーの時代から、インピーダンス解析の分野で半世 はまた、多種多様なアプリケーションにご利用いただけるように、 紀にわたって革新的で優れた製品を送り出してきました。キーサ 技術資料を発行しています。 イトは、研究開発、製造、品質保証、受入れ検査の分野で、お客 様の成功に貢献する製品を提供し続けることを誇りとし、インピー ダンス・アナライザからさまざまな種類のテストアクセサリまで、 幅広いアプリケーションに対応する高度な測定手法 ニーズに応じたあらゆるソリューションを提供することを目指し 図1は、キーサイトのLCRメータとインピーダンス・アナライザ ています。キーサイトでは次のようなものを提供しています。 に用いられている各種測定手法を比較したものです。ご覧の通り、 各手法にはそれぞれ固有の測定上の利点があります。 優れた製品性能：キーサイトの製品は、クラス最高の確度、 高い再現性、高速測定を実現しています。3種類のインピーダンス – 自動平衡ブリッジ法では、通常20 Hz～ 110 MHzの周波数レ 測定ソリューションを取り揃え（表1を参照）、さまざまな測定ニー ンジで、非常に広いインピーダンスレンジにわたる測定が可 ズに対応しています。 能です。この手法は、低周波の汎用テストに最適です。 多彩なソリューション：キーサイトのインピーダンス製品 キーサイトのインピーダンス・アナライザ/LCRメータの ラインは、5 Hz～ 3 GHzの周波数レンジをカバーし、テストアク 測定技術の比較（10 ％確度レンジ） セサリを豊富に取り揃えているため、幅広い選択肢の中からアプ 100M 自動平衡 リケーションに合った機器を選択できます。このセレクションガ 10M ブリッジ イドでは、選択可能なすべての製品およびアクセサリの概要を紹 1M I-V 介します。 100K アプリケーションに最適な周波数レンジ：キーサイト 10K の製品は、業界最高の性能を備え、ニーズに応じた周波数オプショ 1K RF I-V ンを手頃な価格で提供します。アプリケーションに最適な周波数 100 レンジをお選びいただけます。柔軟な周波数アップグレードオプ 10 ションがあり、現在必要な周波数範囲を選択して投資を最小限に 抑え、後でニーズが変化しても対応できます。 1 100m 技術知識：キーサイトは、数十年にわたってインピーダンス測 10m 定ソリューションを提供してきました。キーサイトのLCRメータ 1m とインピーダンス・アナライザは、この長年にわたる経験と絶え 1 10 100 1K 10K 100K 1M 10M 100M 1G 10G 測定周波数レンジ（Hz） 図1.　インピーダンス・アナライザ/LCRメータのインピーダンス測定手法 表1.　インピーダンス測定器のタイプ 製品タイプ 製品の特長 LCRメータ インピーダンス・アナライザ ネットワーク・アナライザ 周波数掃引機能 スポット/リスト 連続 連続 （スタート/ストップ、 （スタート/ストップ、 センター /スパン） センター /スパン） ディスプレイ 数値のみ グラフィックス グラフィックス その他 ハンドラインタ 等価回路解析機能内蔵、 等価回路解析機能内蔵、 フェース、 材料測定、インサーキット 1台の測定器に複数の機能を コンパレータ 測定 搭載 利点 低価格のソリュー 非常に広い測定範囲、 高いコストパフォーマンス、 ション、使いやす 共振解析、回路モデリング 汎用性、小型 さ、高速 インピーダンス測定レンジ（Ω）

03 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide – I-V法は、40 Hz～ 110 MHzの周波数レンジをカバーし、イ このセレクションガイドの使用法 ンピーダンス測定範囲は限定されたものとなっています。I-V 法では、プロービングによるインサーキットテストが可能です。 表2に、キーサイトのすべてのインピーダンス測定器の概要を示 します。この表をご覧になれば、以下の要件に基づいて、キーサ – RF I-V法は、I-V法を改良したもので、I-V法のインピーダン イトの幅広い測定器を比較したり、アプリケーションに適したソ ス測定範囲を残しながらも、ネットワーク解析の高周波測定 リューションを選択することができます。 の利点もいくつか併せ持っています。高確度、高周波性能を 実現するRF I-V法は、RFコンポーネント解析、特に微小なイ – テスト周波数レンジ ンダクタンス値およびキャパシタンス値の測定に、優れた威 – デバイスまたはアプリケーションの種類 力を発揮します。 – 確度（測定手法） – その他の特殊なニーズ – さらに、キーサイトのネットワーク・アナライザは、Sパラ メータ測定とゲインフェーズ測定をベースにした3種類の測 アプリケーションに合ったソリューションが複数ある場合、対応 定手法（反射法、シリーズスルー法、シャントスルー法）を組 するページで各製品の詳細を確認してください。 み合わせたインピーダンス測定ソリューションを提供してい ます。 表2.　キーサイトのインピーダンス測定製品 製品 周波 測定器の モデル 周波数 基本Z 測定表示 機能 4 測定手法 5 主な タイプ 数帯 タイプ レンジ（Hz） 確度 1 範囲（Ω） アプリケーション (%) インピー RF 高性能／材料 E4991B 1 M～ 3 G 0.65 120 m～ 52 k 3 A、B RF-IV LCRコンポーネント、 ダンス・ ／高温 材料、半導体 アナライザ 多機能 E5061B 5～ 3 G 2（代表値） 1～ 2 k/5～ A、B Ref/ LCRコンポーネント、 オプション 20 k/1 m～ 5 3 Series/ PDN 3L5/005 （代表値） Shunt LF/HF 高性能／材料/ E4990A 20～ 120 M 0.08 25 m～ 40 M 3 A、B ABB LCRコンポーネント、 C-V （代表値： 材料、半導体 0.045） インサーキッ E4990Aと 20～ 120 M 1 50 m～ 4 M 3 A、B IV インサーキット、 ト（グランド 42941Aを 半導体 接続）、C-V 併用 LCR RF 高性能／高速 E4982A 1 M～ 3 G 0.8 140 m～ 4.8 k 3 C RF I-V LCRコンポーネント メータ 測定 HF 高性能／材料/ 4285A 75 k～ 30 M 0.1 0.1～ 10 M 3 D ABB LCRコンポーネント、 C-V 材料、半導体 LF 高性能／材料/ E4980A 20～ 2 M 0.05 4 m～ 100 M 3 D ABB LCRコンポーネント、 C-V 材料、半導体 アプリケー LF キャパシタ／ E4981A 120、1 k、 0.07 10 fF～ 2 mF 3 D ABB MLCC ション専用 高速測定用 1 Mのみ 測定器 1. 基本Z確度はベストケースの値で、測定条件によっ 4. 機能コード： A： 内蔵等価回路解析 5. 測定手法のコード： ABB： 自動平衡ブリッジ法 て異なります。 B： カラー LCDディスプレイを使っ I-V： I-V法 詳細については、製品のデータシートを参照して た周波数掃引測定 RF I-V： RF I-V法 ください。 C： カラー LCDディスプレイを使っ Ref： 反射法 2. キャパシタンス測定のみ。 たスポット周波数掃引測定 Series： シリーズスルー法 3. Z測定レンジは測定確度10 %の範囲を表します。 D： LCDディスプレイを使ったス Shunt： シャントスルー法 ポット周波数掃引測定

04 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide インピーダンス・アナライザ mΩからMΩ、5 Hzから3 GHzという広い範囲で、最高の測定確 度を実現できるのは、キーサイトのインピーダンス・アナライザ だけです。アプリケーションに最適な周波数レンジをお選びいた だけます。 – 周波数掃引機能、DCバイアス掃引機能、AC電圧／電流掃引 機能を使用すれば、テストデータの取得方法をカスタマイズ できます。 – 内蔵の等価回路解析機能により、被試験デバイスの等価回路 モデルを計算できます。 – 高度な校正／補正手法により、測定誤差を低減できます。 – 材料の誘電率／透磁率測定、高温特性評価、各種パッシブコ E4990A インピーダンス・アナライザ ンポーネント用のアクセサリ、グランド接続測定用のイン ピーダンスプローブを提供しています。 – 5種類の周波数オプション、20 Hz～ 10/20/30/50/120 MHz、 アップグレード可能 – ±0.08 %（代表値：±0.045 %）の基本インピーダンス測定 確度 – 25 mΩ～ 40 MΩの広いインピーダンス測定範囲（測定確度 10 %） – 測定パラメータ：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、 複素Z、複素Y、Vac、Iac、Vdc、Idc – 内蔵DCバイアスレンジ：0 V～±40 V、0 A～±100 mA – 4チャネル/4トレースの表示が可能な、タッチスクリーン機 能付き10.4インチカラー LCD – データ解析機能：等価回路解析、リミット・ライン・テスト – 42941A インピーダンスプローブを使ったインサーキット／ グランド接続測定（オプション120のみ） E4991B インピーダンス・アナライザ – 7 mmテストフィクスチャと42942A ターミナルアダプタの 組み合わせ（オプション120のみ） – 3種類の周波数オプション：1 MHz～ 500 M/1 G/3 GHz、 – 測定速度：最高3 ms/ポイント（オプション120）、最高 アップグレード可能 30 ms/ポイント（オプション010/020/030/050） – ±0.65 %の基本確度、120 mΩ～ 52 kΩのインピーダンス レンジ（測定確度10 %） – 測定パラメータ：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、 |Γ|、Γx、Γy、θΓ、Vac、Iac、Vdc 1、Idc 1 – 内蔵DCバイアス（オプション001）：0 V～±40 V、0 A～ ±100 mA – 4チャネル/4トレースの表示が可能な、タッチスクリーン機 能付き10.4インチカラー LCD – データ解析機能：等価回路解析、リミット・ライン・テスト – 誘電／磁性材料測定（オプション002）：|εr|、εr'、 – εr''、tanδ(ε)、|μr|、μr'、μr''、tanδ(μ) – 温度特性測定機能（オプション007）および信頼性の高いオン ウエハー測定（オプション010）機能 1 オプション001が必要です。

05 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide ネットワーク・アナライザ E5061B-3L5 LF-RFネットワーク・アナライザ E5061B-3L5 LF-RFネットワーク・アナライザにオプション005イ ンピーダンス解析機能を追加すれば、ネットワーク解析とインピー ダンス解析が1台で行えます。E5061B-3L5/005は、さまざまな 種類の電子部品／回路を評価でき、一般的な研究開発分野での使 用に最適なコストパフォーマンスの高い汎用ソリューションです。 – Sパラメータ・テストポート（5 Hz～ 3 GHz）およびゲイン フェーズ・テストポート（5 Hz～ 30 MHz、1 MΩ/50 Ω入力） – E5061B-005は、Sパラメータ・テストポートまたはゲイン フェーズ・テストポートを使用して、反射法、シリーズス ルー法、シャントスルー法によるインピーダンス測定をサ ポートしています。これらの方法はそれぞれ、低～中、中～ 高、およびmΩ単位のきわめて小さなインピーダンスの測定 に適しています。1 – キーサイトの7 mmタイプと4端子対タイプのコンポーネン ト・テストフィクスチャは、反射法（Sパラメータ・テスト ポート）とシリーズスルー法（ゲインフェーズ・テストポート） で使用できます。 – インピーダンス測定パラメータ：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、 C、L、D、Q – 内蔵DC電圧バイアス電源（0～±40 V、最大±100 mA） 1. 各手法のインピーダンス測定レンジの詳細については、『E5061B-3L5 LF-RFネットワーク・アナライザ＋オプション005インピーダンス解析機能』、 Data Shee（t 5990-7033JAJP）を参照してください。

06 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide LCRメータ キーサイトのLCRメータは、研究開発と製造の両方のアプリケー ションで最高の確度、速度、汎用性をお求めやすい価格で提供し ます。 – 20 Hz～ 3 GHzの広い周波数レンジ – 複数の周波数ポイントで連続テストが行える周波数リスト 掃引 – 低インピーダンスと高インピーダンスのどちらの測定でも、 最高の測定を実現 – アクセサリの品揃えが豊富で、リード付きコンポーネント、 表面実装コンポーネント、半導体、材料のテストに最適 – 高速測定と優れた測定の再現性を実現 – ハンドラインタフェースとBINソート機能により、製造環境 におけるテストの自動化を容易に実現 E4982A LCRメータ – 1 MHz～ 3 GHz、100 kHzの分解能 – 高速測定：0.9 m（s モード1）、2.1 m（s モード2）、3.7 ms （モード3）から選択可能 – 0.8 %の基本確度 – 広いインピーダンスレンジに対応するRF I-V法（0.14 Ω～ 4.8 kΩ） – 低インダクタンスの非常に安定した測定と優れたQ確度によ り、チップインダクタのテストに対応 4285A プレシジョンLCRメータ – 製造テストに最適なハンドラインタフェース – 測定パラメータ：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、 – 75 kHz～ 30 MHz Rdc、Idc、Vdc、ユーザー定義可能なパラメータの組み合 – 0.1 %の基本確度 わせ（最大4つのパラメータ） – リスト掃引測定 – 汎用PCインタフェース：GPIB、LAN、USB – オプション001：±40 V DCバイアス電圧を追加 – 測定パラメータ：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、C、L、D、Q

07 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide E4980A プレシジョンLCRメータ E4980AL プレシジョンLCRメータ – 20 Hz～ 2 MHz、4桁の分解能 – 20 Hz～ 300 kHz/500 kHz/1 MHz、4桁の分解能 – 0.05 %の基本確度、低インピーダンスと高インピーダンス – 0.05 %の基本確度、低インピーダンスと高インピーダンス の測定で優れた再現性を実現 の測定で優れた再現性を実現 – 10 %確度測定範囲（測定周波数＠100 kHz） – 10 %確度測定範囲（測定周波数＠100 kHz） 0.0049 Ω～ 172,000,000 Ω 0.0049 Ω～ 172,000,000 Ω – 測定時間（1 MHz）：5.6 ms(SHORT)、88 ms(MED)、 – 測定時間（1 MHz）：12 ms(SHORT)、118 ms(MED)、 220 ms(LONG) 343 ms(LONG) – オプションE4980A-001：±20 Vrms/±100 mArmsのテス – 測定パラメータ：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、 ト信号、±40 V/±100 mAの内蔵DCバイアス、第2 DC電源、 Rdc Vdc/Idc測定を追加 – 汎用PCインタフェース：LAN、USB（メモリ/USBTMC）、 – オプション201および301：それぞれハンドラインタフェー GPIB スおよびスキャナインタフェースを追加 – 測定パラメータ：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、 Rdc、Vdc 1、Idc 1 – 汎用PCインタフェース：LAN、USB（メモリ/USBTMC）、 GPIB 1 オプションE4980A-001が必要です。

08 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide E4981A 120 Hz/1 kHz/1 MHzキャパシタンスメータ – 120 Hz、1 kHz、1 MHzのテスト周波数 – 高速測定：2.3 ms(1 MHz)、3.0 ms(1 kHz)、11.0 ms(120 Hz) – 基本確度 C：0.07 %、D：0.0005 – 製造テストに最適なハンドラインタフェースおよびスキャナイ ンタフェース – 測定パラメータ：C、D、Q、ESR、G – SLC機能により一定のテスト電圧を印加して、大容量キャパシ タを測定可能。

09 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide テストフィクスチャおよびアクセサリ（4端子対） 基本テストフィクスチャ 16034E SMD/チップ部品用テスト 16034G 小型SMD/チップ部品用テスト 16034H SMD/チップ部品用テスト フィクスチャ フィクスチャ フィクスチャ 周波数：≦40 MHz 周波数：≦120 MHz 周波数：≦120 MHz 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） アレイ部品に最適 16044A SMD用4端子テストフィクスチャ 16334A SMD/チップ部品用ピンセット型 16047A アキシャル／ラジアル・テスト テストフィクスチャ フィクスチャ 周波数：≦10 MHz 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） 周波数：≦15 MHz 周波数：A：≦13 MH（z ケルビンコンタクト） 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） 最大DCバイアス：A：±42 Vピーク（最大） 16047E テストフィクスチャ 16089A/B/C/D クリップリード 周波数：≦120 MHz クリップ型状：A/B/C：ケルビン 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） D：ワニ口 周波数：5 Hz～ 100 kHz ケーブル長：A/B/C/D：0.94 m E：1.3 m 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大）

10 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide テストフィクスチャおよびアクセサリ（4端子対） 外部DCバイアスフィクスチャ 16065A アキシャル／ラジアル部品用 16065C 外部バイアスアダプタ テストフィクスチャ（安全カバー付き） 周波数：100 Hz～ 1 MHz 周波数：50 Hz～ 2 MHz 最大外部供給DCバイアス：±40 V 最大外部供給DCバイアス：±200 V 50 μFのブロッキングキャパシタがHc端子 5.6 μFのブロッキングキャパシタがHc端 に直列に接続されています 子に直列に接続されています テストリード 16048A/D/E BNCテストリード 16048G/H BNCテストリード 周波数：A：≦30 MHz、D：≦30 MHz、 周波数：≦120 MHz E：≦2 MHz ケーブル長：G：1 m、H：2 m ケーブル長：A：0.94 m、D：1.89 m、 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） E：3.8 m 4294A/E4990A専用 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） ターミナルアダプタ 42942A 4端子対-7 mmターミナルアダプタ 周波数：≦120 MHz 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） 4294A/E4990A専用

11 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide テストフィクスチャおよびアクセサリ（4端子対） 材料測定 その他 16451B 誘電体テストフィクスチャ 16452A 液体テストフィクスチャ 測定パラメータ： 測定パラメータ： 42941A インピーダンス・プローブ・ キャパシタンス(C)、損失係数(D)、誘電率 キャパシタンス(C)、誘電率(εr'、εr'') キット (εr'、εr'') 量：≦6.8 ml 被試験材料サイズ： 周波数：20 Hz～ 30 MHz 周波数：≦120 MHz 厚さ：≦10 mm 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） 直径：10～ 56 mm プローブケーブル長：1.5 m 周波数：≦30 MHz 4294A/E4990A専用 テストフィクスチャおよびアクセサリ（7 mm端子） RF SMD/チップコンポーネント 16196A/B/C/D 平行電極SMDテスト 16197A 底面電極SMDテストフィクスチャ 16092A アキシャル／ラジアル/SMD フィクスチャ テストフィクスチャ 周波数：DC～ 3 GHz 平行電極SMD用同軸フィクスチャ。 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） 周波数：≦500 MHz 周波数：DC～ 3 GHz 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） 適応SMDサイズ： 16196A：1.6 mm×0.8 mm 16196B：1.0 mm×0.5 mm 16196C：0.6 mm×0.3 mm 16196D：0.4 mm×0.2 mm

12 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide 16192A 平行電極SMDテストフィクスチャ 16194A 高温コンポーネント用 16200B 外部DCバイアスアダプタ テストフィクスチャ 周波数：DC～ 2 GHz 周波数：1 MHz～ 1 GHz 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） 周波数：DC～ 2 GHz 最大外部供給DCバイアス：5 A、±40 V 最大DCバイアス：±42 Vピーク（最大） 動作温度：－55 ℃～＋200 ℃ 材料測定 16453A 誘電材料テストフィクスチャ 16454A 磁性材料テストフィクスチャ 周波数：1 MHz～ 1 GHz 周波数：1 kHz～ 1 GHz サンプルサイズ（平滑薄板のみ）： サンプルサイズ（トロイダルコアのみ）： 厚さ：0.3 mm～ 3 mm 高さ：≦8.5 mm 直径：≧15 mm 内径：≧3.1 mm 外径：≦20 mm テストフィクスチャおよびアクセサリ(E5061B) 16201A N型-7 mmターミナルアダプタ 周波数：≦3 GHz 最大DCバイアス：±40 V E5061B専用

13 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide キーサイトのテストアクセサリは、測定の効率化と 確度の向上を実現 テストフィクスチャの選択は、適切な測定器の選択と同様に重要 適切なテストフィクスチャを用いることにより、より確度の高い です。キーサイトでは、アキシャル、ラジアル、SMD/チップデ 測定結果が得られます。 バイス用のアクセサリを豊富に取り揃えています。さらに、リ – 測定の信頼性と再現性の向上 モートテストやシステムアプリケーションを容易にするために、 – スループットの向上 さまざまなテストリードを用意しています。安全カバー付きの外 – 作業ミスの低減 部テストフィクスチャもご利用いただけます。 – より厳しいテストリミットの適用 – 測定確度の向上 製品の詳細およびカタログについては、以下のアクセサリの ウェブサイトをご覧ください。 www.keysight.co.jp/find/accessories 表3.　テストアクセサリ／フィクスチャ 16034E SMD/チップ・テストフィクスチャ DC～ 40 MHz • • • • • • 16034G SMD/チップ・テストフィクスチャ（小型SMD用） DC～ 120 MHz • • • • • • 16034H SMD/チップ・テストフィクスチャ（アレイ部品用） DC～ 120 MHz • • • • • 16044A SMD/チップ・テストフィクスチャ（4端子接続） DC～ 10 MHz • • • • • 16047A アキシャル／ラジアル・テストフィクスチャ DC～ 13 MHz • • • • • 16047E アキシャル／ラジアル・テストフィクスチャ DC～ 120 MHz • • • • • • 16048A 1 mのテストリード、BNC DC～ 30 MHz • • • 16048D 2 mのテストリード、BNC DC～ 30 MHz • • • 16048E 4 mのテストリード、BNC DC～ 2 MHz • 16048G 1 mのテストリード、BNC DC～ 120 MHz • • 16048H 2 mのテストリード、BNC DC～ 120 MHz • • 16065A 安全カバー付き外部電圧バイアス(≦200 Vdc) 50 Hz～ 2 MHz • • • • • 16065C 外部バイアスアダプタ(≦40 Vdc) 100 Hz～ 1 MHz • • • 16089A/B/C/D ケルビンクリップ・リード 5 Hz～ 100 kHz • • • • • 16092A RFばねクリップ：アキシャル／ラジアル/SMD DC～ 500 MHz •1 •2 • •3 16192A 平行電極SMDテストフィクスチャ DC～ 2 GHz •1 •2 • •3 16194A 高温コンポーネント用テストフィクスチャ DC～ 2 GHz •1 •2 • •3 16196A/B/C/D 平行電極SMDテストフィクスチャ DC～ 3 GHz •1 •2 • •3 16197A 底面電極SMDテストフィクスチャ DC～ 3 GHz •1 •2 • •3 16200B 外部DCバイアスアダプタ 1 MHz～ 1 GHz •1 •2 • •3 16201A N型-7 mmターミナルアダプタ 5 Hz～ 3 GHz • 16334A SMD/チップ部品用ピンセット型テストフィクスチャ DC～ 15 MHz • • • • • 16451B 誘電材料テストフィクスチャ DC～ 30 MHz • • • • • 16452A 液体テストフィクスチャ 20 Hz～ 30 MHz • • • • 16453A 誘電材料テストフィクスチャ 1 MHz～ 1 GHz •4 16454A 磁性材料テストフィクスチャ 1 kHz～ 1 GHz •2 •4 42941A インピーダンスプローブ・キット DC～ 120 MHz • 42942A 4端子対-7 mmアダプタ DC～ 120 MHz • 注記：周波数および使用上の制限については、アクセサリの説明を参照してください。 1. 3.5 mm（オス）-7 mmアダプタが必要です。 2. 42942Aが必要です。 3. 16201Aと組み合わせて場合に使用できます。 4. E4991B-002が必要です。 E4980A/AL 4285A E4981A E4982A E4990Aオプション120 E4990Aオプション010/020/030/050 E4991B E5061Bオプション3L5/005

14 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide 測定確度の向上に有用 キーサイトのアプリケーションに関する知識は、測定確度の向上に役 立ちます。 インピーダンス測定ハンドブック（カタログ番号5950-3000JA）は、 インピーダンス測定の総合的な手引書です。このハンドブックはイン ピーダンス測定の基本から応用までを網羅しており、テストの問題に 対応する上で役立つ測定手法を学ぶことができます。 1. インピーダンス測定の基本 2. インピーダンス測定器 3. 測定ケーブルの接続方法とテストフィクスチャ 4. 測定誤差と誤差補正 5. インピーダンス測定の応用 補完製品およびアクセサリ 最適なソリューションを簡単に見つけ出すことができるように、キーサイトのインピー ダンス測定製品の補完製品／専用アクセサリを製造しているメーカーを以下に掲載し ます。ご興味のある製品がございましたら、各メーカーに直接お問い合わせください。 （キーサイトは、これらのメーカーの製品を特に推奨しているわけでなく、リストは参考 情報です）。 会社名 主要製品／専門分野 ウェブサイトのアドレス All-Ring Tech (ART)社 コンポーネントの試験装置、選別装置、テーピング装置 www.allring-tech.com.tw アルモテック（株） カスタム・テストフィクスチャ www.arumotech.co.jp アクシス・ネット（株） ハイパワー条件下のインピーダンス測定システム www.axisnetinc.com ベータレーザーマイク社 自動LANケーブル・テスト・システム www.betalasermike.com BH Electronics社 広帯域トランス www.bhelectronics.com カスケード・マイクロテック社 半導体およびICアプリケーション用のRF/マイクロ波プローバお www.cascademicrotech.com よびアクセサリ Electro Scientific Industries (ESI)社 コンポーネントの試験装置、選別装置、テーピング装置 www.esi.com エスペック社 コンポーネント／材料テスト用の温度チャンバ www.espec.com HCUNI社 材料測定ソリューション www.hcuni.com （株）ヒューモラボラトリー キャパシタ／水晶デバイスの試験装置および選別装置 www.humo.co.jp Inter-Continental Microwave (ICM)社 自動デバイス・ハンドリング・システム、RF/マイクロ波テス www.icmicrowave.com トフィクスチャ、非同期校正用標準 （株）関東電子応用開発(KEAD) 材料測定ソリューション www.kead.co.jp キーコム（株） 材料測定ソリューション www.keycom.co.jp Material-Wave Interactions (MWI) 材料測定ソリューション www.mwilab.com Laboratories社 North Hills Signal Processing社 平衡測定用の広帯域トランス（バラン） www.northhills-sp.com （株）セイワ技研 エネルギー／バッテリー・テスト・ソリューション www.seiwa-giken.co.jp （株）システムハウス・サンライズ 太陽電池セル用のC-Vテストソリューション www.ssunrise.co.jp サムテック（有） 材料測定ソリューション www.sumtec.biz Sine Yo Feng (SYF)社 コンポーネントの試験装置およびテーピング装置 www.syfpt.com.tw （株）東京ウエルズ コンポーネントの試験装置、選別装置、テーピング装置 www.tokyoweld.com

15 | Keysight | LCRメータ、インピーダンス・アナライザ、テストフィクスチャ - Selection Guide myKeysight www.keysight.co.jp/find/mykeysight ご使用製品の管理に必要な情報を即座に手に入れることができます。 www.axiestandard.org AXIe（AdvancedTCA® Extensions for Instrumentation and Test）は、 AdvancedTCA®を汎用テストおよび半導体テスト向けに拡張したオープン規格 です。Keysightは、AXIeコンソーシアムの設立メンバーです。 www.lxistandard.org LXIは、ウェブへのアクセスを可能にするイーサネットベースのテストシステム 用インタフェースです。Keysightは、LXIコンソーシアムの設立メンバーです。 www.pxisa.org PX（I PCI eXtensions for Instrumentation）モジュラー測定システムは、PCベー スの堅牢な高性能測定／自動化システムを実現します。 www.keysight.com/go/quality Keysight Electronic Measurement Group DEKRA Certified ISO 9001:2008 Quality Management System 契約販売店 www.keysight.co.jp/find/channelpartners キーサイト契約販売店からもご購入頂けます。 お気軽にお問い合わせください。 キーサイトのウェブリソース LCRメータ/インピーダンス・アナライザ： www.keysight.co.jp/find/impedance LCRメータ／インピーダンス測定製品アクセサリ： www.keysight.co.jp/find/impedance-accessory RF/マイクロ波テストアクセサリ： www.keysight.co.jp/find/accessories キーサイト・テクノロジー合同会社 本社〒192-8550 東京都八王子市高倉町9-1 受付時間 9：00-18：00（ 土・日・祭日を除く） TEL 0120-421-345 (042-656-7832) FAX 0120-421-678 (042-656-7840) Email contact_japan@keysight.com www.keysight.co.jp © Keysight Technologies, 2013 - 2015 Published in Japan, May 27, 2015 5952-1430JA 0000-00DEP www.keysight.co.jp