回路パターン、はんだ接合部等の導通抵抗を高速、高精度に計測します
・最大50msec/CHの高速データ計測を実現
・半導体リレー採用で計測精度を向上
・専用計測回路、専用ケーブルによりノイズ低減
・マルチ電流源によるAC/DC印加計測
・モジュール構造で容易な保守性を実現
・装置の信頼性を高める自己診断機能搭載
※オプション：熱電対アンプ＋熱データ収録
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このカタログについて
| ドキュメント名 | 多CH導通信頼性評価装置 RTm-100シリーズ |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 1.5Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | J-RAS株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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