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シリコンウェーハ結晶欠陥ボイド検査装置 X-CAS-2 / X線ウェーハバンプ自動検査装置 Six-3000

製品カタログ

◆シリコンウェーハ結晶欠陥ボイド検査装置X-CAS-2
・シリコンウェーハ内部の結晶欠陥ボイド(空隙) 全自動検査装置
・IGBTのSiチップの中にもボイドが潜在しています

◆X線ウェーハバンプ自動検査装置 Six-3000
・ウェーハ上のはんだバンプの検査を自動で行うX線自動検査装置
・クリーンルーム対応

◆詳細はカタログをダウンロードしご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

このカタログについて

ドキュメント名 シリコンウェーハ結晶欠陥ボイド検査装置 X-CAS-2 / X線ウェーハバンプ自動検査装置 Six-3000
ドキュメント種別 製品カタログ
ファイルサイズ 1.2Mb
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