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粒子カウントシステム カタログのご案内です。
・画像分析法による自動測定ワンパッケージ。
・サイズ1µm～1mmまでの粒子検出。
・範囲50mm角を約40秒で測定。
・分散性評価ができる新機能！！
・国内ソフトウェアメーカーだからこそできる安心のトータルソリューションを提供します。
このカタログについて
| ドキュメント名 | 粒子カウントシステム |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 629.5Kb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 三谷商事株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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