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さらに進化した サーボアナライザー
間欠動作を行なうターゲットでもLMS方式での計測が可能なサーボアナライザーシステム。
FRA方式やFFT方式での計測も可能です。
特長
止まっても計測可能！
コントローラーのカスタマイズにより間欠的に動作する制御系に対しても計測ができます。
既存のサーボアナライザには無い機能です。
ディジタルI/F
標準 I/F はディジタルです。ノイズの影響を受けない高精度な計測が行えます。
アナログ I/Fもカスタマイズで対応致します。
このカタログについて
| ドキュメント名 | NEW quattro SYSTEM |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 1.9Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社マイクロネット (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログ（NEW quattro SYSTEM）の内容
Page 1:さらに進化したサーボアナライザーサンプリング周波数が向上（当社比6倍）FRA、FFTモードともに計測周波数を向上計測I/Fに加えて制御I/Fを装備計測対象を直接制御しながら計測可能高さは単三電池以下のコンパクト設計高機能高速度超小型
Page 2:止まっても計測可能！２つのディジタルI/Fディジタル 計測 I/Fディジタル 制御 I/F主な特長製品仕様お問い合わせ窓口株式会社 マイクロネット 営業本部〒210-0001 神奈川県川崎市川崎区本町2-8-14 本町矢田ビルTEL:044-244-9406（代表） Email：inquiry@micronet.co.jp各種カスタマイズ、計測サービスのお見積りをいたします。内容 (quattro2)上限周波数 6kHz下限周波数 1Hz周波数分割設定 リニア/ログ選択可周波数分解能 1000ポイント以下アベレージ回数 200回以下FFT点数 512ポイント以下上限周波数 30kHzアベレージ回数 200回以下表示方法縦軸：電圧 リニア横軸：時間 リニア表示可能な波形種別・周波数特性計測用の外乱波形・計測対象との動作確認用のステップ関数波形・計測対象との動作確認用のインパルス関数波形表示方法縦軸：ゲインと位相 リニア横軸：周波数 リニア/ログ解析機能・ゲイン余裕、位相余裕を数値表示・入力出力信号の線形性を現すコヒーレンス関数を表示・カーソル機能により波形読み取りが容易ナイキスト線図 表示方法縦軸：虚数部の極座標表示横軸：実数部動径：デジベル/絶対値CSVファイルLeptonデータファイル(独自フォーマット)WindowsXP、Vista、7I/Fコネクタ 26ピン 計測用：2.54ピッチ 5×2、制御用：2.54ピッチ 7×2通信仕様 SPI準拠 通信クロック：5MHz、データ幅：8bit/16bit、送信：1ch/受信：1ch電気的特性 CMOSロジック 3.3V 74LVCシリーズ、5V CMOS切り替え可PC接続I/F 2.0入力 AC100～240V、50/60Hz出力 5V5W以下H41×W76×D103約260g10～40℃(結露なきこと)デジタル計測I/FUSB電源ACアダプタ消費電力本体サイズ重量動作温度項目計測モードFRAモードFFTモード解析ソフトウェア(Lepton)入出力波形ボード線図計測結果保存PC動作環境