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チップ外観検査装置 AVS-1000カタログ情報
ステージ付顕微鏡レベル外観検査装置
ワンキーでチップ間高速移動（チップ送り機構）。ワンキー入力でマップデータを自動作成、NG品種分類機能で不良率のリアルタイム表示。作成したマップデータは弊社ソーター等後工程設備にそのまま利用可能。１チップ内複数ポイント検査機能・NG箇所見直し機能等、便利機能豊富、カスタマイズ対応可能。メガピクセルカメラ搭載、情報の共有と画像記録・解析可能。オプションのオートフォーカス搭載で作業者の負荷軽減。化合物半導体（LD・LED）検査に最適。
このカタログについて
| ドキュメント名 | チップ外観検査装置 AVS-1000 |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 981.1Kb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | アクテス京三株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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