X-ray 3D-CT System

ソフトウェア High Resolution / Wide Field Series ～ 高分解能/広視野3次元X線CTシステム ～ 多様なニーズに対応したマルチデバイス制御ソフトウェア（Jasper/Quartz）により、直感的な操作性や高速化を実現。 新たなデザインに加え、従来機よりも省設置スペースを実現。 観察画面（Analyzer）と再構成画面（Recon）を同一ソフト内で使用可能。 （従来比30%減） 観察画面（Analyzer） 再構成画面（Recon） 透過・CT両機能を兼ね備えたデスクレス仕様のオールインワン ～各種制御や撮影～ ～CT再構成処理のデータ表示や編集～ NEWモデル。 ①1 ツールズアイコン： ①1 ツールズアイコン： マッピング機能、ティーチング機能、計測機能、コメント入力機能などへアクセス可能 計測機能、コメント入力機能へアクセス可能 XVA-160RCE ②2ステージコントローラ： ②2タイル表示： ステージ動作を制御、確認可能 複数の断層表示を1画面で閲覧可能 標準仕様 ③3カメラコントローラ： カメラを設定可能 フラットパネルディテクタ ④4 X線コントローラ： ユーセントリック機能 X線発生器の設定を変更可能 高倍率（1,600倍） 可視光マッピング機能 2 2 1 1 フォーカス自動調整機能 CE規格対応 シグナルタワー・UPS搭載 3 オプション機能 3次元斜めCT機能 直交CTユニット： Presto 4 High Power Series ～ 高出力マイクロフォーカス3次元X線CTシステム ～ 可視光マッピング機能 X線マッピング機能 ティーチング機能 可視光マップ上をクリックすることで、任意の場所へ 1視野のX線画像を連結することで、広範囲の透過画像 透過撮影、CT撮影など多点でそれぞれの登録をして 微小化の進む電子デバイスから大型アルミダイカスト 移動できます。 を撮影可能です。 自動で撮影することが可能。また、マッピングと連動 製品などの大型サンプル、またGFRP、CFRTPなどの した座標登録も可能です。 複合材料まで観察可能なワイドレンジモデルです。 直 交 C T 専 用 機 Si-300 標準仕様 フラットパネルディテクタ マルチスキャン オフセットスキャン マウス操作機能 計測機能 ヘリカルスキャン 直感的なUIで、マウスを使った直感的な操作 透過画像やCT画像上で各種寸法、面積、 フォーカス自動調整機能 を実現しています。 ボイド計測が可能です。 A オプション機能 コリメータ B ドラッグ操作で撮影位置が簡単移動 5 6