新たな業界標準
「Vピット：GaNonSiC/Si」 「カーボン・インクルージョン：SiCバルク基板」 「マイクロパイプ・TSD・TED・クラック・キズ」 AIによる検出・自動分類 比類なきスループットで2” –8” をマッピング
驚愕のスキャンスピードと検査装置に特化したAIとコンピュータビジョンによる分析で工程管理・歩留まりの早期立ち上げの高効率化に貢献
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このカタログについて
| ドキュメント名 | AI搭載表面検査装置 検出欠陥を自動分類 |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 1.4Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | アミリアジャパン株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
このカタログの内容
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新たな業界標準
新たな業界標準
「Vピット：GaN on SiC/Si」
「カーボン・インクルージョン：SiC バルク基板」
「マイクロパイプ・TSD・TED・クラック・キズ」
AI による検出・自動分類
比類なきスループットで 2” – 8” をマッピング
驚愕のスキャンスピードと検査装置に特化
した AI とコンピュータビジョンによる分
析で工程管理・歩留まりの早期立ち上げの
高効率化に貢献
nSpec® PS
アミリアジャパン株式会社
ナノトロニクスグループ
〒222-0033 神奈川県横浜市港北区新横浜3-16-10 5F
TEL: 045-548-6797
EMAIL: sales_nspec@aamilia.com
WEB: www.aamilia-japan.com
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アミリアジャパン株式会社
ナノトロニクスグループ
〒222-0033 神奈川県横浜市港北区新横浜3-16-10 5F
TEL: 045-548-6797
EMAIL: sales_nspec@aamilia.com
WEB: www.aamilia-japan.com