強誘電体分極ループ＆絶縁破壊試験システム＆低コスト強誘電体変位・歪み試験システム
<強誘電体分極ループ＆絶縁破壊試験システム>
- 一般的な強誘電体テスト機能
双極および単極ヒステリシス フープ
PM. PUND測定
FM. 疲労測定
-このテストシステムは、誘電体および強誘電体の電荷密度を電場と周波数の関数として測定できます。
このテストは、改良されたアクティブ Sawyer タワー回路に基づいています。
- このシステムには、高電圧下で試験片が絶縁破壊を起こした場合でも、システムを保護する保護回路が組み込まれています。
- 外部高電圧アンプを使用すると、10 kV を超える電圧でテストを実行できます。 HV インターフェースは必要ありません。
- 独自に設計されたテストフィクスチャは、柔らかいポリマー誘電体材料を損傷しません。
1. AC、DC、またはフィールド耐久寿命での絶縁破壊試験。
2. 絶縁破壊までの自動強誘電体試験
3. ピエゾ材料の分極処理
- ｽﾍﾟｯｸ：
±100 Vまたは±200 Vアンプを内蔵
• 電圧: > 10 kV ～ 30 kV
• 電荷: <1 nC ～ >1 mC
• 周波数: 0.01 ～ 1000 Hz [Model:CPE1801]、または 10 kHz [Model:CPE1901]、または 300 kHz [Model:CPE1901-300k]
• ピエゾひずみ応答を測定するために 2 つのセンサー入力を提供します (分解能が 10 nm 未満の低コストのフォトニック センサーを推奨します)、または磁気電気オプション
<低コスト強誘電体および歪み試験システム>
・バルクセラミックおよびポリマーサンプル用。 強誘電体の電荷と圧電ひずみ応答を測定します。
・薄膜テスト用のプローブステーションが提供されます。
・高温のシリコンオイルに浸して低コストで高温測定が可能なサンプルホルダーです。
・テストシステムの構成
1. MIT 2100 フォトニックセンサーシステム
2. PolyK 強誘電体テストシステム (コンピュータを含む)
3. Trek 高電圧アンプ
4. PolyK歪み測定治具
5. ラップトップ
このカタログについて
| ドキュメント名 | 低コスト強誘電体テストシステム |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 690.3Kb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | アルファコーポレーション合同会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
Page1
Ferroelectric Polarization Loop
& Dielectric Breakdown Test System
Functions
• General ferroelectric test functions such as
• Bipolar and unipolar hysteresis hoop
• PM – PUND measurement
• FM – Fatigue measurement
• This test system can measure the electrical
charge density of dielectric and ferroelectric
materials as a function of electrical field and
Black Color Test System frequency. The test is based on an improved
active Sawyer‐Tower Circuit.
• The system has integrated protection circuit to
protect the system even when the test
specimens experience dielectric breakdown
under high voltage.
• Working with external high voltage amplifier,
test can be performed at voltage >10 kV. No HV
10 interface required.
8 P(VDF‐TrFE) @ 25 C • Uniquely designed test fixture will not damage
soft polymer dielectric materials.
6 1. Dielectric breakdown test under AC, DC or
4 field endurance life.
2. Automatic ferroelectric test until dielectric
2
breakdown
0 3. Poling of piezo materials
‐2
‐4 • Internal ±100 V or ±200 V amplifier
• Voltage: > 10 kV to 30 kV
‐6 • Charges: <1 nC to >1 mC
‐8 • Frequency: 0.01 ~ 1000 Hz [CPE1801], or 10
kHz [CPE1901], or 300 kHz [CPE1901‐300k]
‐10
‐200 ‐150 ‐100 ‐50 0 50 100 150 200 • Provide TWO Sensor input to measure piezo
E (V/m) strain response (recommend low cost fotonic
1. Dielectric impedance, piezoelectric, pyro, sensor with resolution below 10 nm) or
and high voltage test system with low cost, Magnetoelectric option
d33 meter – design and build entire lab
2. Turnkey test systemwith software
3. Piezoelectric PVDF‐TrFE polymer and PVDF
film, PVDF‐TrFE‐CTFE polymer, etc Silver Color Test System
4. Low‐cost high quality piezoelectric single PolyK Technologies, State College, PA, USA;
crystal with quick delivery sale@polyk‐lab.com www.piezopvdf.com
2
Charge Density (C/cm )
Page2
Test Examples
15 10
12 PVDF, alpha PVDF, Poled
25 m, 100 Hz
9
5
6
3
0 0
‐3
‐6
‐5
‐9
‐12
‐15 ‐10
‐500 ‐400 ‐300 ‐200 ‐100 0 100 200 300 400 500 ‐300 ‐200 ‐100 0 100 200 300
E (V/m) E (V/m)
10 15
8 PVDF-TrFE at 25 C PVDF, UnPoled
PolyK 10 12 m, 100 Hz, No 2
6
4
5
2
0 0
‐2
‐5
‐4
‐6
‐10
‐8
‐10 ‐15
‐200 ‐150 ‐100 ‐50 0 50 100 150 200 ‐400 ‐200 0 200 400
E (V/m) E (V/m)
5 7
4 Blue: PTV
6 High-K, 10 Hz
3 PolyK Tech
2 5 6 mm diameter
1
4
0
‐1 3
‐2 2
‐3
‐4 1
‐5 0
‐200 ‐150 ‐100 ‐50 0 50 100 150 200 0 100 200 300 400
E (V/um) E (V/m)
Contact Information:
PolyK Technologies, State College, PA, USA; sale@polyk‐lab.com
www.polyktech.com www.piezopvdf.com
Charge 2
Charge Density (C/cm )
Charge Density ( 2
C/cm )
2
Charge Density (C/cm ) Charge Density ( 2
C/cm )
Charge Density
Page3
Low Cost Test System for
Ferroelectric & Strain
• For bulk ceramic and polymer
sample. Measure ferroelectric
charge and piezo strain
response.
• Probe station will be provided
for thin film test
• This sample holder can be
soaked in hot silicone oil for
high temperature
measurement with low cost.
PolyK Technologies, State College, PA,
USA; energy@polyktech.com
www.piezopvdf.com
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Piezoelectric Displacement
Strain Test
• The Test System consists of:
1. MIT 2100 Fotonic Sensor System
2. PolyK Ferroelectric Test System (including computer)
3. A Trek high voltage amplifier
4. PolyK strain measurement fixture
5. A laptop
アルファコーポレーション合同会社
〒135-0063 東京都江東区有明3-7-26有明フロンティアB-9F
TEL.050-3302-1214 E-mail. info@alphacorp.ecweb.jp
website. https://www.alphacorp-lab.com
PolyK Technologies, State College, PA, USA; sale@polyk‐lab.com
www.piezopvdf.com