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低コスト誘電体テストシステム(ターンキーシステム)
◆キャパシタンス(誘電定数)と誘電損失vs周波数と温度
アジレント4284A(E4980A)精密LCRメータ、温度チャンバ(液体窒素冷却)LabView制御ソフトウエア、複数(15個)試料を一度にテスト可能、最高温度250℃、DF精度<0.1%、TSDCテストに拡張可能
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このカタログについて
ドキュメント名 | 誘電体テストシステム PolyK |
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ドキュメント種別 | 製品カタログ |
ファイルサイズ | 1.2Mb |
登録カテゴリ | |
取り扱い企業 | アルファコーポレーション合同会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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キャパシタンス(誘電定数)と誘電損失 vs
周波数と温度: アジレント 4284A(E4980A)
精密 LCR メータ、温度チャンバ(液体窒素冷
却)LabView 制御ソフトウエア、複数(15 個)
試料を一度にテスト可能、最高温度 250℃、
DF 精度<0.1%、TSDC テストに拡張可能
モジュラーデザイン:低コストで TSDC に拡張できます。
非線形誘電体: キャパシタンス(誘電率)を LCR メータで測定する時、テスト電圧は 1V です。
しかし、多くの圧電セラミックス(PZT)とポリマ(PVDF)は印加された電界に対し非線形応答性を
有します。 通常それらの誘電率と損失係数は高電圧下では低くなります。
PolyK PK-HVC1801 の機能: 高電圧キャパシタンステストでの試料の絶縁破壊時に、高価な
LCR メータやアナライザを保護します。
標準仕様: DC バイアス:±4000V、周波数:100 Hz~100 kHz、温度:-184℃~250℃(温度チ
ャンバは上記誘電体テストシステムまたは TSDC テストシステムとの共用可能)。
普及型 LCR メータやインピーダンスアナライザとの互換性有り(ユーザー保有機の使用可能)。
いん
パソコンと Trek 高電圧アンプ(再生品による
コストダウンも可能)、ソフトポリマフィルム用
のテストフィクスチャを含みます。
ソフトウエアは、充放電エネルギー密度をダ
イレクトに与え、エネルギー密度 vs テストサ
イクルのサマリーファイルが付いたライフタイム
テストが行えます。
基本パフォーマンス シリコンオイル内の高電
1. 電圧: 15 kV 温度: -184℃~250℃ 圧テスト:アーク放電な
2. 15 チャンネル:T 安定化と結露防止の為の時間節約として し→高誘電破壊
バッチ 15 個/バッチの試料のテストが可能 電圧。
3. ドライ窒素(又はエア)パージコネクタ 誘電/TSDCテストシ
4. 試料は絶縁流体に沈めるのでアーク発生なし ス テ ムとの共用可
5. ステージの温度が試料と異なる可能性がある競合するシス 能。
テムよりも、油中でより安定で正確
・テスト電圧: 10 kV
・温度: -150℃~300℃
・高感度、漏れ電流精度<1 pA
・マルチ機能が一つに:TSDC、焦
電体と漏れ電流
・薄膜・フィルムなど柔軟試料のダ
メージ防止の為、安定した最小
の力を与えるスプリング電極
・ ASTM D257 テストの為のガード
リング
・ PC 自動制御 TSDC テスト モジュラーデザイン:誘電体テストシステムと温度チャンバーが共用できます。
・高温での誘電率 (C, tan δ, インピーダンス) 測定 ・各種圧電体の d定数をダイレクトに測定
・常温~800℃または 1000℃まで ・各種治具の使用で、d31、d15の測定
・ Pt 電極 ・アルミナ断熱 ・オメガTコントローラ ・ PC 制御 ・-100℃~600℃の温度特性評価システム
・フィルムや薄板の d31測定システム
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50種類を超えるPVDFベースのポリマとフィルムの
コレクション
• 高 Kターポリマ: 誘電率>50(フィラーなし) 絶縁破壊>400 MV/m
• 圧電フィルム: 厚さ 10μm〜100μmの高いd33 と d31 を持つ
分極された PVDF
• 高 K 誘電エラストマ: アクチュエータとエネルギーハーベスティング
• 絶縁破壊> 700 MV / m の指向 PVDF: 高密度コンデンサ
• バッテリバインダ用高 Mw PVDF
• エレクトロスピニング用低 MwPVDF
コンデンサグレードフィルム:最小欠陥、高絶縁破壊、二軸配向フィルム、均一な厚さ(±2%)
PolyK PE ループテストシス
テムと統合された圧電歪み 1. 125 V〜30 kV の Trek™再生高電圧 ゾーン延伸機
応答測定システム アンプ とピエゾドライバ: 出力ケーブル、
保証書、説明書、及びトレーニング
2. 圧電ポリマとセラミック用に統合された
環境発電テストシステム
デジタルカウンタ付
3. 顧客の要求に基づき設計される高 き低コスト高速 MTI
電圧テストシステム 折りたたみ耐久試
験 ASTM D2176
・キャパシティブサンプルの放電速度とエネルギー
を 100ns の速度で直接測定
・電圧>15 kV
・静電容量:10 pF から 1 mF 以上
・ライフサイクル試験が可能なコンピュータタ制御
誘電体膜(100 pF〜10 nF)の評価用に特別に設計
製造元: PolyK Technologies, LLC / USA
輸入元:
〒135-0063東京都江東区有明 3-7-26 有明フロンティアB-9F
Tel: 050-3302-1214 Email: info@alphacorp.ecweb.jp
Website: https://www.alphacorp-lab.com