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誘電体テストシステム PolyK

製品カタログ

低コスト誘電体テストシステム(ターンキーシステム)

◆キャパシタンス(誘電定数)と誘電損失vs周波数と温度

アジレント4284A(E4980A)精密LCRメータ、温度チャンバ(液体窒素冷却)LabView制御ソフトウエア、複数(15個)試料を一度にテスト可能、最高温度250℃、DF精度<0.1%、TSDCテストに拡張可能

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このカタログについて

ドキュメント名 誘電体テストシステム PolyK
ドキュメント種別 製品カタログ
ファイルサイズ 1.2Mb
登録カテゴリ
取り扱い企業 アルファコーポレーション合同会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧)

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このカタログの内容

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キャパシタンス(誘電定数)と誘電損失 vs 周波数と温度: アジレント 4284A(E4980A) 精密 LCR メータ、温度チャンバ(液体窒素冷 却)LabView 制御ソフトウエア、複数(15 個) 試料を一度にテスト可能、最高温度 250℃、 DF 精度<0.1%、TSDC テストに拡張可能 モジュラーデザイン:低コストで TSDC に拡張できます。 非線形誘電体: キャパシタンス(誘電率)を LCR メータで測定する時、テスト電圧は 1V です。 しかし、多くの圧電セラミックス(PZT)とポリマ(PVDF)は印加された電界に対し非線形応答性を 有します。 通常それらの誘電率と損失係数は高電圧下では低くなります。 PolyK PK-HVC1801 の機能: 高電圧キャパシタンステストでの試料の絶縁破壊時に、高価な LCR メータやアナライザを保護します。 標準仕様: DC バイアス:±4000V、周波数:100 Hz~100 kHz、温度:-184℃~250℃(温度チ ャンバは上記誘電体テストシステムまたは TSDC テストシステムとの共用可能)。 普及型 LCR メータやインピーダンスアナライザとの互換性有り(ユーザー保有機の使用可能)。 いん パソコンと Trek 高電圧アンプ(再生品による コストダウンも可能)、ソフトポリマフィルム用 のテストフィクスチャを含みます。 ソフトウエアは、充放電エネルギー密度をダ イレクトに与え、エネルギー密度 vs テストサ イクルのサマリーファイルが付いたライフタイム テストが行えます。 基本パフォーマンス シリコンオイル内の高電 1. 電圧: 15 kV 温度: -184℃~250℃ 圧テスト:アーク放電な 2. 15 チャンネル:T 安定化と結露防止の為の時間節約として し→高誘電破壊 バッチ 15 個/バッチの試料のテストが可能 電圧。 3. ドライ窒素(又はエア)パージコネクタ 誘電/TSDCテストシ 4. 試料は絶縁流体に沈めるのでアーク発生なし ス テ ムとの共用可 5. ステージの温度が試料と異なる可能性がある競合するシス 能。 テムよりも、油中でより安定で正確 ・テスト電圧: 10 kV ・温度: -150℃~300℃ ・高感度、漏れ電流精度<1 pA ・マルチ機能が一つに:TSDC、焦 電体と漏れ電流 ・薄膜・フィルムなど柔軟試料のダ メージ防止の為、安定した最小 の力を与えるスプリング電極 ・ ASTM D257 テストの為のガード リング ・ PC 自動制御 TSDC テスト モジュラーデザイン:誘電体テストシステムと温度チャンバーが共用できます。 ・高温での誘電率 (C, tan δ, インピーダンス) 測定 ・各種圧電体の d定数をダイレクトに測定 ・常温~800℃または 1000℃まで ・各種治具の使用で、d31、d15の測定 ・ Pt 電極 ・アルミナ断熱 ・オメガTコントローラ ・ PC 制御 ・-100℃~600℃の温度特性評価システム ・フィルムや薄板の d31測定システム
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50種類を超えるPVDFベースのポリマとフィルムの コレクション • 高 Kターポリマ: 誘電率>50(フィラーなし) 絶縁破壊>400 MV/m • 圧電フィルム: 厚さ 10μm〜100μmの高いd33 と d31 を持つ 分極された PVDF • 高 K 誘電エラストマ: アクチュエータとエネルギーハーベスティング • 絶縁破壊> 700 MV / m の指向 PVDF: 高密度コンデンサ • バッテリバインダ用高 Mw PVDF • エレクトロスピニング用低 MwPVDF コンデンサグレードフィルム:最小欠陥、高絶縁破壊、二軸配向フィルム、均一な厚さ(±2%) PolyK PE ループテストシス テムと統合された圧電歪み 1. 125 V〜30 kV の Trek™再生高電圧 ゾーン延伸機 応答測定システム アンプ とピエゾドライバ: 出力ケーブル、 保証書、説明書、及びトレーニング 2. 圧電ポリマとセラミック用に統合された 環境発電テストシステム デジタルカウンタ付 3. 顧客の要求に基づき設計される高 き低コスト高速 MTI 電圧テストシステム 折りたたみ耐久試 験 ASTM D2176 ・キャパシティブサンプルの放電速度とエネルギー を 100ns の速度で直接測定 ・電圧>15 kV ・静電容量:10 pF から 1 mF 以上 ・ライフサイクル試験が可能なコンピュータタ制御 誘電体膜(100 pF〜10 nF)の評価用に特別に設計 製造元: PolyK Technologies, LLC / USA 輸入元: 〒135-0063東京都江東区有明 3-7-26 有明フロンティアB-9F Tel: 050-3302-1214 Email: info@alphacorp.ecweb.jp Website: https://www.alphacorp-lab.com