表面上の粒子をわずか数秒で測定します
◆特長
数秒で表面上の粒子を計測
多彩なプローブ形状
◆用途
各種真空装置のウェットクリーニング後の残留粒子確認
精密洗浄パーツの出荷前受入検査
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このカタログについて
| ドキュメント名 | 表面粒子測定器 Surface Particle Detector QIII |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 2.5Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社エムアイティ (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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