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高性能ウェーハマクロ欠陥検査装置 PRESTIGE II

製品カタログ

独自の画像処理アルゴリズムで背景パターンを除去して欠陥のみを抽出

・高解像度光学系+独自の画像処理
・RGBの3色照明 赤、緑、青の3色が選択可能(混合も可能)適正な光源で確実な検出
・膜厚ムラを同時解析
・LEDやMEDIAの検査にも有効

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このカタログについて

ドキュメント名 高性能ウェーハマクロ欠陥検査装置 PRESTIGE II
ドキュメント種別 製品カタログ
ファイルサイズ 656.1Kb
登録カテゴリ
取り扱い企業 CCTECH JAPAN株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧)

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