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株式会社フィッシャー・インストルメンツのカタログ一覧

株式会社フィッシャー・インストルメンツのカタログ一覧

電磁式・渦電流式・ 渦電流位相式の3方式の膜厚計 PHASC...

2層コーティング厚み測定用の携帯式膜厚計

■ 自動検知機能によりアルミ板上の塗装膜厚測定もプローブ変更なく測定 ■ 一度に塗装と亜鉛層それぞれの厚みを測定 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

小型電磁式膜厚計 プローブ内蔵タイプ PERMASCOPE(...

小型電磁式膜厚計 塗装の厚みを簡単に測定

・作業現場でも持ち運びが便利なポケットサイズ ・自動電源オフ機能 ・読み取りやすい画面でのデジタル表示 ・自動統計機能 ・上/下限値設定可能 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

電磁式・渦電流式小型膜厚測定器 FMPシリーズ

高機能型のハンディタイプ膜厚測定器

・着脱式のプローブにより、さまざまな仕様のプローブから選択可能 ・電磁式と渦電流式のどちらかの方式、または両方式を使い非破壊で膜厚測定 ・下地材料とプローブタイプを自動認識 ・コントラストの高い大型ディスプレイ ・簡単な操作性と多数のオプションに...

フェライト組織量の測定 フェライトスコープ FERITSCO...

オーステナイト鋼とデュープレックス鋼におけるフェライト組織量の測定

・FERITSCOPE FMP30はオーステナイト鋼とデュープレックス鋼のフェライト組織量を測定します。 ・磁性構造体部分、他のフェライト相も測定できます。 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

ウェハーの測定に特別設計された蛍光X線測定装置 FISCHE...

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ WAFERは、ウェハーの膜厚測定と...

・エレクトロニクス産業や半導体産業などのウェハー測定 ・薄膜コーティングの分析(例)0.1µm以下のAuやPdなど ・多層膜コーティングの測定など ・ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計されたモデルです。 ◆詳細はカタロ...

蛍光X線測定装置 FISCHERSCOPE(R) X-RAY...

集光レンズの搭載により、微小部のメッキ膜厚を短時間で高精度に測定可能!

●最小10µmの集光レンズを搭載(オプション) 従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。 ●検出器には半導体検出器の中でも最高性能のSDDを採用 SDD(シリコンドリフトディテクタ―)を搭載したことにより、短時間で高精度の...

小型デュアル式膜厚計 DUALSCOPE(R)MP0R/DU...

超小型のデュアル式膜厚計 皮膜の厚みを簡単に測定

・作業現場でも持ち運びが便利なポケットサイズ ・自動電源オフ機能 電池の余分な消費が無く、経済的です ・読み取りやすい2画面でのデジタル表示 ・自動統計機能 ・上/下限値設定可能 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

【膜厚測定・素材分析】蛍光X線分析器 FISCHERSCOP...

FISCHERSCOPE X-RAY XAN(R)シリーズは、膜厚測定や素材分析用の...

・X線源と検出器がチャンバー下側に設置されているため、試料はテーブルにのせるだけで簡単に素早く測定することができます。 ・貴金属やジュエリーなどの製品の品質管理や買取査定、電子部品の金属膜の分析など応用範囲が幅広い機種となります。 ◆詳細はカタロ...

金インゴット・コイン 真偽判定検査装置 SIGMASCOPE...

素早く・非破壊式で真偽判定の検査ができる測定器

・SIGMASCOPE GOLDの測定器では、非破壊で金インゴットやコインが純金であるかどうかを測定することができます。 ・約18mmまでの厚みのある金インゴットを測定することができます。 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

電解式による膜厚と電位差の測定 COULOSCOPE(R) ...

シンプルで測定しやすい電気化学分析で、金属の膜厚測定に最適です。

・CMS2は、あらゆる素地(下地材料)にある、多層を含む金属皮膜の厚みを測定します。 ・CMS2 STEPは、追加のSTEP試験(膜厚および電位差の同時測定)機能を特長としています。 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

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