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シンクランド株式会社のカタログ一覧

シンクランド株式会社のカタログ一覧

表面・内部構造検査用3Dスキャナ (OCTシステム)

カメラではなく光で見る!ガラス・フィルム・シリコンなどの内部の凹凸や、透明なワークの...

対象物を壊すことなくワークの傷や劣化状況を検出する“非破壊検査”。光学・電気技術を用いた検査測定機器などの開発・製造を行うシンクランド株式会社から、非破壊で表面だけでなく“内部”や“深さ”を測定する新技術『光干渉断層撮影法(OCT)』を紹介します。 ...

高速通信用光変調デバイスおよび受光器の周波数特性検査装置(P...

高速通信用光変調デバイスおよび受光器の周波数特性検査装置、 PFDAのご紹介です

PFDAは、シンクランド製Two-Tone光源とRohde&Schwarz製ベクトルネットワークアナライザを組み合わせたオリジナリティ溢れるシステムです。 (Two-Tone 光源は国立研究開発法人情報通信研究機構の成果を基にシンクランドが開発をした光...

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