SiC半導体や、SiC半導体と組合わせて使用する装置を、実機に搭載させる事なく、実環境に近い評価試験が可能となる装置です。
IEC60587の汚損液傾斜平板法(段階昇圧トラッキング法)」に準拠して、耐トラッキング性の評価を行えます。
電線や絶縁材料などの破壊試験を行う試験器です。
本装置は、直流高電圧を安定に発生させ電解コンデンサの被覆の耐電圧試験を行う試験器です。
絶縁材料の特性(耐トラッキング性、耐アーク性、燃焼性等)をテストする試験器です。
直流電圧試験・交流電圧試験の両方が行える試験装置です。電力変換装置内のサイリスタモジュールの低圧ターンオン試験等に使用可能です。
半導体整流器(ダイオードやサイリスタなど)の耐電圧試験を行う装置です。
試験用の各種プローブや、安全に試験するための手袋、長靴、ゴムマット、離れて操作できるリモートBOX、始業点検用の治具などTWVシリーズで使用できるオプション品の一覧です。
太陽電池モジュールおよび、燃料電池の絶縁耐力試験に対応した耐電圧試験機です。
0~400Vまで出力が得られる手動式の摺動電圧調整器です。