デジタル画像相関法 ひずみ解析システム sDIC

Solution for Measurement System 日本製 デジタル画像相関法 ひずみ解析システム DIGITAL IMAGE CORRELATION sDIC DIC（デジタル画像相関法）による、変形・ひずみ解析のためのソフトウェア・システムを提供します。 サンプルの変形前後 の画像を比較解析する事により、変形やひずみの量・方向・分布を解析します。 本システムを使用する事により、非接触で、 物体のひずみや変形を定量化、分布を可視化する事が可能です。高速の挙動や、マイクロスケール、特殊環境下等の計測でも、 ソフトウェア・カメラ・照明・専用光学系等の周辺機器も含め、 総合的にご提案いたします。 タイヤの荷重時の変位 エンジンの振動解析 ＜主な特徴＞ ◆ 座標、変位、速度、ひずみ、形状、変形を測定可能 ◆ ベクトル図 ·コンター図表示 ◆ 対応画像フォーマット：TIFF画像 他 ◆ 使いやすく、直感的なインターフェース ◆ プロセスツリー構造 ◆ 豊富なポスト処理機能 ◆ 各種高速度カメラ、高解像度カメラに対応 ◆ 日本語、英語 対応 ◆ オフライン解析、オンライン解析、３D解析対応※ 抵抗基版の熱膨張 ※オプション ＜アプリケーション＞ ● このカタログに記載された製品は、予告無しにデザイン及び、仕様を変更する場合がございます。 ！ 安全に関するご注意 ご使用前に〈製品仕様書〉をよくお読みの上、正しくお使いください ● 記載の会社名及び製品名は、各社の商標又は登録商標です。 引張り・圧縮・ 破壊・衝撃・ 電顕下での ねじれ試験 熱膨張・熱変形 落下試験 微小試験 〒107－0052 東京都港区赤坂4－9－6 タク赤坂ビル TEL：03－3405－1280　FAX：03－3405－1282 mail：info@seika-di.com website：www.seika-di.com

デジタル画像相関法 sDIC Solution for Measurement Systemひずみ解析システムDIGITAL IMAGE CORRELATION ＜標準モデル仕様＞ ＜システム構成例＞ 2D 3D（ステレオ） システム構成 カメラ 1台 2台 照明 2灯 3灯 ソフトウェア sDIC（2D） sDIC（ステレオ） キャリブレーション ターゲット × ○ 三脚 3 4 カメラマウント ○ コントロールPC 1式 1式 2D カメラ フォーマット 2/3 インチ 解像度 2,448 x 2,048 pixel ダイナミックレンジ 12 bit モノクロ 最大フレームレート 23 fps シャッター グローバル 接続 インターフェース イーサネット（1000BASE-T） 対応レンズ C-mount/F-mount 照明 方式 LED 色温度 2700 - 6500 °K 最大照度 55,1000 lx（6500°K） ビームアングル 3D（ステレオ）13° コントロール用PC オペレーティング システム Windows 10 Pro for Workstation（64 bit） プロセッサー Intel Xeonプロセッサー（4コア） メモリ 32 GB DDR-4 SDRAM ストレージ 512 GB M.2スロット接続SSD　　2 TB ハードディスクドライブ モニタ 24インチワイドモニター 画像フォーマット TIFF 画像補正 ○（ガウシアンフィルター） マスク・ROI ○ 表示 2D 3D 計測項目 形状、変形、各種ひずみ 演算精度* 1/100ピクセル以下 1/100ピクセル以下（面内方向）1/50ピクセル以下（面外方向） ● このカタログに記載された製品は、予告無しにデザイン及び、仕様を変更する場合がございます。 ！ 安全に関するご注意 ご使用前に〈製品仕様書〉をよくお読みの上、正しくお使いください ● 記載の会社名及び製品名は、各社の商標又は登録商標です。 〒107－0052 東京都港区赤坂4－9－6 タク赤坂ビル TEL：03－3405－1280　FAX：03－3405－1282 mail：info@seika-di.com website：www.seika-di.com