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CT検査のスピードと精度を向上!高品質でかつ格段に短い時間で計測ができる、産業用CTとしては唯一のツール

製品カタログ

scatter|correct

●主な特長
・低アーチファクトで高精度なファンビームCT を、コーンビームCTで実現したことにより、計測時間が最高で100倍短縮
・鋼やアルミニウムなどの高散乱材料だけでなく、複合材や多媒質材についても、CT品質を大幅に向上
・同じエネルギーや、同程度のCTシステムと比較して、複雑な処理をすることなく、透過⻑の向上が可能
・GE固有の技術 産業用X線CTのうち、phoenixv|tome|x cシリーズおよびmシリーズのみが、この技術の導入が可能。
 新規のみならず、既存機種のアップグレードにも対応。
*1000スライスの場合、代表的なファンビームCTスキャンでは1000 分(1分/1スライス)かかるのに対し、コーンビームCTスキャンでは例えば10分で完了

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このカタログについて

ドキュメント名 CT検査のスピードと精度を向上!高品質でかつ格段に短い時間で計測ができる、産業用CTとしては唯一のツール
ドキュメント種別 製品カタログ
ファイルサイズ 722.5Kb
取り扱い企業 GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧)

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このカタログの内容

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GE Inspection Technologies scatter|correct ⾼品質でかつ格段に短い時間で計測ができる、 産業⽤CTとしては唯⼀のツール 主な特⻑  低アーチファクトで⾼精度なファンビーム CT を、コーンビー ム CT で実現したことにより、計測時間が最⾼で 100 倍 短縮  鋼やアルミニウムなどの⾼散乱材料だけでなく、複合材や 多媒質材についても、CT 品質を⼤幅に向上  同じエネルギーや、同程度の CT システムと⽐較して、複 雑な処理をすることなく、透過⻑の向上が可能  GE 固有の技術-産業⽤ X 線 CT のうち、phoenix v|tome|x c シリーズおよび m シリーズのみが、この技 術の導⼊が可能。新規のみならず、既存機種のアップグ 従来のコーンビーム CT- 先進の scatter|correct レードにも対応。 散乱放射線によるアーチ コーンビーム CT ファクトあり *1000 スライスの場合、代表的なファンビーム CT スキャン では 1000 分(1 分/1 スライス)かかるのに対し、コーン ビーム CT スキャンでは例えば 10 分で完了 フロスト&サリバン社より 産業⽤ CT システム部⾨の「2016 年グローバル・ カンパニー・オブ・ザ・ イヤー・アワード」を受賞
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これまでの問題点:散乱放射線による CT スピード/品質の低下 フラットパネルを使った産業⽤コーンビーム CT は、その広いダイナミックレンジと、何千枚ものスライス画像を同時取得できる利点を もっていることから、たった 1 回の 360 度回転で、ファンビーム CT と⽐べて素早く全体のボリュームデータが取得できます。ただし、 直進しない散乱 X 線が、本来到達すべき素⼦とは別の素⼦に⼊るため、CT 画像の質を低下させています。 そのためこれまでは、ファンビーム CT とコリメートしたラインセンサの組み合わせは、⾼エネルギーCT をする際の、唯⼀解とされてき ました。しかし、ファンビームでは、⼀度に 1 枚の CT スライスデータしか取得できず、サンプルを垂直に移動させて⼿順を数百回繰 り返すため、1 回の CT スキャンに数分ではなく、数時間がかかってしまいます。 従来のコーンビーム CT スライス単位のファンビーム CT 取得時間と CT 画像の 散乱放射線が検出器に到達 散乱アーチファクト低減 質の関係 ソリューション:scatter|correct による⾼速・⾼品質な CT スキャン ⼯程管理において、優れた画 質と⾼いスループットの両⽴が 重要であることは、明⽩です。 ハードウェアとソフトウェアの進歩 を組み合わせた GE 固有の scatter|correct オプションがあ れば、合理的な時間内に散乱 アーチファクトを⼤幅に低減した 従来のファンビーム CT- scatter|correct 従来のコーンビーム CT- 形で⼤量のサンプルバッチをス スキャン時間 2 時間 (最適化済み)- スキャン時間 9 分 キャンすることが可能になり、不 スキャン時間 9 分* 良解析や 3D 計測検査タスク *scatter|correct には、部品種別ごとに初回の補正スキャンが 1 回必要です。 の精度向上につながります。 scatter|correct-使⽤によるメリット  GE 固有の scatter|correct により、産業⽤フラットパネル検出器コーンビーム CT ではこれまで成し得なかった CT 品質を実現  ファンビーム CT の⾼精度品質と全⾃動コーンビーム CT の⾼処理能⼒の両⽅を実現  透過しにくい複数材料から成る被検体の⾃動⽋陥認識や正確な 3D 計測などの定量的なボリューム評価を確実に改善  CT の⽤途を研究開発から⽣産フロアでの連続検査へと移⾏できるだけの検査⽣産性の⼤幅向上  よりシンプルかつ低エネルギーの microCT で、同等の CT 性能を達成 GE センシング&インスペクション・テクノロジーズ株式会社 ⾮破壊検査機器営業本部 〒104-6023 東京都中央区晴海 1-8-10 晴海トリトンスクエア オフィスタワーX 23F TEL:03-6890-4567 FAX:03-6864-1738 〒542-0081 ⼤阪府⼤阪市中央区南船場 2-3-2 南船場ハートビル 8F Tel:06-6260-3106 FAX:06-6260-4107 ※すべての仕様および外観は、予告なしに変更されることがありますのでご了承ください。※すべての仕様お www.geoilandgas.co.jp/it よび外観は、予告なしに変更されることがありますのでご了承ください。※本製品をご使⽤の前に取扱説明 Email:geitjapan-info@ge.com 書をよくお読みの上、正しくお使いください。 ※Baker Hughes ロゴは Baker Hughes, a GE company(BHGE)に GE モノグラムは General Electric Company に帰属します。 © 2018 Baker Hughes, a GE company – All rights reserved. GEIT-31352(04/16)_JP