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工業用X線CT計測システム総合カタログ

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ドキュメント名 工業用X線CT計測システム総合カタログ
ドキュメント種別 製品カタログ
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このカタログの内容

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⼯業⽤X線CTの技術⾰新 ⾼画質、⾼速を実現する優れた性能 gemeasurement.com/CT
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最上級の X線CT技術。 かつてないスピード X線CTユーザーの希望は、再現性のある製品情報を 3次元で取得することにあります。それも、可能な限り速 く、正確に。 BHGEは、このようなお客様の夢を実現いたしました。 評価品質を落とすことなく、計測時間を数時間から 数分に短縮しました。 これにより、⽣産性と効率を向上させながら、それぞれの 評価要件を満たすことができます。 独⾃の⾰新技術 全⾃動ワークフロー 運⽤コストの低減 より⾼精度の評価 画期的なphoenix v|tome|x mは、 BHGE独⾃のさまざまな⾰新技術を結 集し、評価のスループットと画質を⾶躍 的に向上させます。
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scatter|correct dynamic 41 フラットパネル検出器 production|edition コラボレーション型ロボット
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⼯業⽤CT計測の⽬的に合った 最適な製品をお選びください。 3D計測や⽋陥解析のご要望を満たすよう、充実したオプションを備えた 各種の製品を取りそろえています。 x|plore プレシジョン CT ライン x|plore プロダクション CT ライン x|ploreプレシジョンCTは、これまでにない⾼速、⾼ x|ploreプロダクションCTを使⽤すれば、画質を損 精度の評価が可能な、⾮破壊評価、3D計測、 なうことなくスキャンスピードを上げることができ、⽣ 3D解析に最適な⾼性能X線マイクロフォーカスCT 産現場に適した3D評価が可能になります。 システムです。 研究・開発 付加製造・計測 nanotom m 180 v|tome|x L 300 | 450 v|tome|x m 300 アプリケーション 複合材、プラスチック、エレクトロニクス、 付加製造、鋳造品、複合材、 付加製造、鋳造品、複合材 、⽣物学、地質学、計測 ⽣物学、地質学、計測 エレクトロニクス、計測 メリット ⾼分解能 nanoCT ® 極めて⾼い柔軟性 汎⽤性のある優れた精度 最⼤ CTスキャンサイズ ( h x Ø) 250 x 240 mm Ø 600 x 900 mm Ø 1000 x 1300 mm 400 x 420 mm Ø 最⼤サンプル重量 kg / lbs 3 kg / 6.6 lbs 50 kg / 110 lbs 100 kg / 220 lbs 50 kg / 110 lbs 最⼩可視化能⼒ 0.2 μm < 1 μm / 0.2 μm nanoCT ®
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v|tome|x m 300 v|tome|x c speed|scan CT64 スピードアップのための⾃動化 これらの⾼い⽣産性を誇るシステムは、オプションであるロボットを使うことで実現します。 他のオプションと組み合わせることで、計測時間を最⼤45秒にまで短縮できます。 パーツ・製造 v|tome|x s 240 v|tome|x c speed|scan CT 64 x|cube 160 | 320 複合材、プラスチック、 ⼤型鋳造品、付加製造 、 付加製造、⼩型鋳造品 複合材、計測 ⼤型鋳造品、複合材、ボーリングコ ア 付加製造、鋳造品の2D評価 コストパフォーマンス 強⼒、⾼度な⾃動化 極めて⾼いスループット ⾼度な⾃動化、CT(オプション) 420 x 400 mm Ø 500 x 1000 mm Ø 888 x 500 mm Ø 10 kg / 22 lbs 50 kg / 110 lbs 50 kg / 110 lbs 100 kg / 220 lbs 300 kg / 660 lbs < 1 μm / 0.2 μm nanoCT ® ≥ 100 μm ≥ 300 μm
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正確無⽐な精度、 かつてない速さ。 ファンビーム式CTの場合、最新モデルであっても計測には数時間を要することがあります。 当社特許のscatter|correct、dynamic 41フラットパネル検出器とhigh-flux|target を組み合わせることで、1.5分でのスキャンも可能です。 scatter|correct アーチファクトのない⾼精度で、スキャン時間を 60分からわずか6分にまで短縮 何⼗年もの間、スキャンは数時間かかるものでした。これは、画質を落とさずに散乱線を低減する唯⼀の⽅法が、⾮常に低速 のファンビームCTしかなかったためです。しかし現在では、BHGE独⾃技術 scatter|correctを使⽤することで、画質を損なう ことなく⼤量バッチのサンプルを⾼速でスキャンできるようになりました。この独⾃の機能では、ファンビームCTの低アーチファクトで ⾼精度な特性と、コーンビームCTの速さを組み合わせ、⽋陥解析の精度を上げるとともに3D計測評価業務のスループットを 最⼤100倍にまで向上させています。 従来のファンビームCT scatter|correctで最適化 従来のコーンビーム CT スキャン時間2時間 スキャン時間9分 スキャン時間9分 scatter|correct (54 分の節約) 従来のファンビームCTの
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dynamic 41 フラットパネル検出 器 検出器感度の向上によりスキャン時間を 6分から3分に短縮 dynamic 41|100 dynamic 41|100および41|200検出器は、BHGEの次世代 detector ⼯業⽤X線フラットパネル型検出器プラットフォームの最初の製品 です。これらの検出器は、より⾼い感度、より速いフレームレート、よ り⼤きな撮像⾯積と適応画像処理モードを組み合わせることで、 2D放射線評価と3DのCT評価の効率と⽣産性を向上させます。 Conventional DXR250 200 μm pixel detector 標準 CTスキャンの速度または分解能は2倍で、 焦点 スキャン時間をさらに1.5分にまで短縮 試験体 これまでのマイクロフォーカスCTスキャンでは、ターゲット材の溶解を 防ぐために通常より焦点を⼤きくする必要がありました。しかし、焦 点を⼤きくすると、画像の鮮鋭度と、さらに困ったことには精度が低 検出器 下します。最適化された熱伝導率を持つBHGEのhigh-flux- |targetにより、より⼩さな焦点でのさらに⾼い出⼒が可能になり、 同じ⾼分解能でスループットを2倍にできます。これにより、画像ノイ ズの少ない⾼画質のCT画像が実現し、速度または精度が向上し ます。 標準的なターゲット : 50 W high-flux|targe : 100 W dynamic 41 フラットパネル検出器 BHGE製最上級 (3分の節約) (1.5分の節約) cone beam CT 1.5 mins 平均スキャン時間(60分)
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たゆまぬ技術⾰新 BHGEの最新の⾰新技術は、より⼤型の部品をさらに⾼速、⾼精度でスキャンできるようにす ることで、CTシステムの能⼒を最⼤限に発揮させます。 helix|CT より⻑尺の部品をさらに⾼速、⾼画質でスキャンします。このデータ取得技術では、Feldkamp法による再構成で⾒ら れるアーチファクトを減らして⽔平⾯で良好な結果を得られるようにし、⾼倍率のままでつなぎ⽬のアーチファクトを防ぎま す。螺旋状にサンプルを回転させ、シームレスに全体を計測するため、スキャン後にいくつもの部分的なスキャンデータを つなぎ合わせる必要がなくなり、より鮮明な画像が得られます。 円スキャン - ヘリカルスキャン - Feldkamp法によるアーチファクト アーチファクトの影響のない⾼画質 offset|CT より⼤型の部品をさらに正確にスキャンします。これまで、 v|tome|x m、v|tome|x c HSといった、⼤きめの16イン チ検出器を備えた⼩型CTシステムでは、ある直径を超える部 品はスキャンできませんでした。しかし、最新のoffset|scanに よって、設置⾯積の⼩さな⼩型CTシステムでこれまでより⼤き な部品をスキャンすることが可能になりました。また、同じ⼤き 従来の中央回転CTスキャン: offset|CT scan:: さの部品であればより⾼い分解能でスキャンできます。 16インチ検出器に対しても サンプルはさらに⾼い分解能でもサンプルが⼤き過ぎる スキャンが可能 ruby|plate & true|position true|position校正ワークフローとruby|plate校正ファントムは評価⼿法と精度を改善します。これらにより、システム のジオメトリをいつでも迅速かつ容易に決定できるとともに、⾃動的に補正してVDI 2630からの逸脱を回避します。 これは、測定精度は⾼いまま、CTスキャンのセットアップ時間を短縮できることを意味します。
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オートメーションによる⾼い精度 未来はすでに現実のものとなり、⽬まぐるしく変化しています。BHGEの⼯業⽤X線CTの製 品ポートフォリオは、⽋陥による無駄を減らし、⽣産性と管理を確実にするために必要な使 いやすさと繰り返し性、再現性を提供します。これらの⾼度に⾃動化されたシステムにより、 スキャン時間はわずか45秒にまで短縮されます。 quick|pick マニピュレータ production|edition コラボレーションロボット このブレード⾃動評価⽤マニピュレータ(オプション) この協調ロボット(オプション)は、phoenix は、phoenix v|tome|x c HSとともに、⼤量バッチの v|tome|x スキャナーに全⾃動化されたスループットの 全⾃動CTスキャンを可能にします。このシステムは、業 CT評価能⼒を与え、効率的な3D評価ツールとしま 界トップクラスのサンプルサイズへの対応と柔軟性を実 す。 現し、⾼減衰サンプルに対する⼗分な透過能⼒を提 供します。 3D speed|ADR 画期的なspeed|scan CT 64専⽤の⽋陥検出 プログラムです。この強⼒なアルゴリズムは、定評あ るボリュームグラフィックス社製VGinLINEソフトウェ アと組み合わせることで、3Dでの⽣産⼯程の管理と 最適化を実現します。 最⼤でこれまでの5分の1の トレーニングで、1⼈のオペ レータが同時に複数のCTシ ステムを動かせるようになりま した。
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CTカスタマイズソリューション 製品名 本システムに対するオプション 管球構成パターン 左記管球パターンに対する high-flux|target nanotom m 温度安定キャビネット 180kV ナノフォーカス 直接計測システム easy|calib 材料引張ステージ 温度ステージ v|tome|x s easy|calib 240kV マイクロフォーカス ◯ v|tome|x m 温度安定キャビネット 240kV マイクロフォーカス ◯ 直接計測システム 240kV マイクロフォーカス + ◯180kVナノフォーカス (マイクロフォーカスのみ) ruby|plate (TBD) 300kV マイクロフォーカス ◯ true|position (TBD) 300kV マイクロフォーカス + ◯180kVナノフォーカス (マイクロフォーカスのみ) ruby|bar VDI2630 コラボレーションロボット v|tome|x c 温度安定キャビネット 450kV ミニフォーカス 直接計測システム ruby|plate (TBD) true|position (TBD) VDI2630 クイックマニュピュレータ v|tome|x L 温度安定キャビネット 450kV ミニフォーカス 直接計測システム 450kV ミニフォーカス + ◯300kVマイクロフォーカス (マイクロフォーカスのみ) easy|calib 300kV マイクロフォーカス ◯(マイクロフォーカスのみ) 300kV マイクロフォーカス + ◯ 180kVナノフォーカス (マイクロフォーカスのみ) seifert x|cube 個別にお問合せください。 speed|scan CT64 個別にお問合せください。 nanome|x 個別にお問合せください。 microme|x 個別にお問合せください。 x|plore プレシジョンCTライン x|plore プロダクションCTライン
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製品名 検出器組み合わせパターン 左記検出器パターンに対する scatter|correct helical offset nanotom m DXR(フラットパネル検出器) ◯ v|tome|x s 8インチDXR250(フラットパネル検出器 1000x1000) ◯ ◯ 16インチDXR250 (フラットパネル検出器 2000x2000) ◯ ◯ v|tome|x m 16インチDXR250 ◯ ◯ ◯ dynamic41|200 (フラットパネル検出器 2000x2000) ◯ ◯ ◯ dynamic41|100 (フラットパネル検出器 4000x4000) ◯ ◯ ◯ v|tome|x c LDA ◯ TBD LDA + 16インチDXR250 ◯ TBD LDA + dynamic41|200 ◯ TBD 16インチDXR250 ◯ ◯ TBD dynamic41|200 ◯ ◯ TBD v|tome|x L LDA ◯ ◯ LDA + 16インチDXR250 ◯ ◯ LDA + dynamic41|200 ◯ ◯ LDA + dynamic41|100 (450kV搭載の場合は⾮推奨) ◯ ◯ 16インチDXR250 ◯ ◯ dynamic41|200 ◯ ◯ dynamic41|100 (450kV搭載の場合は⾮推奨) ◯ ◯ seifert x|cube 個別にお問合せください。 speed|scan CT64 個別にお問合せください。 nanome|x 個別にお問合せください。 microme|x 個別にお問合せください。
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⾰命的なデジタル評価 BHGEの⾰新的なx|plore CTは、画質を損なうことなくスループットを増⼤するために設計され ました。x|ploreプレシジョンCTにより⾼速、⾼分解能のスキャンが実現し、更に、x|ploreプロダ クションCTにより⽣産現場へのCT検査の導⼊が可能となりました。 BHGEは、お客様の業務効率の向上に寄与すべく、今後も取り組んでまいります。 GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ株式会社 お問い合わせは... ⾮破壊検査機器営業本部 〒104-6023 東京都中央区晴海1-8-10 晴海アイランド トリトンスクエア オフィスタワーX 23F Tel:03-6890-4567 Fax: 03-6864-1738 〒542-0081 ⼤阪府⼤阪市中央区南船場2-3-2 南船場ハートビル 8F Tel: 06-6260-3106 Fax: 06-6260-3107 © 2018 Baker Hughes, a GE company – All rights reserved. すべての仕様および外観は、予告なしに変更されることがありますのでご了承ください。 本製品をご使⽤の前に取扱説明書をよくお読みの上、正しくお使いください。 geitjapan-info@bhge.com Baker Hughesロゴは Baker Hughes, a GE company(BHGE)に、GEモノグラムは General Electric Companyに帰属します。 GEIT-31358EJP_Rev.0 (06/2018)