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光干渉顕微鏡システム BW-M7000

製品カタログ

非接触で0.1nmクラスの表面性状評価を実現

光干渉顕微鏡システム「BW-M7000」は、独自の高度干渉波形データ取得技術および超精密位相解析技術により、1ピコメートルの高さ分解能を実現しました。
サブナノメートルからミリメートルまでの高さ範囲の表面トポグラフィを高速かつ高精度で測定し、様々な素材の高機能化および精密加工技術の開発などを強力に支援します。

このカタログについて

ドキュメント名 光干渉顕微鏡システム BW-M7000
ドキュメント種別 製品カタログ
ファイルサイズ 1.4Mb
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